판매용 중고 BROWN & SHARPE MicroVal 343 #165203
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ID: 165203
Coordinate measuring machine
Specifications:
Measurement Range (Axes) X-14" X Y-16" X Z-12"
Daylight 20"W X 15"H
Power: 110/120V / 1 Phase / 50/60Hz
Includes:
Renishaw Probe
Air-Ride / Cushioned Guides
Microval Switch Pannel for X,Y,X-Axes Lock
Bench Style Table Stand.
BROWN&SHARPE MicroVal 343은 반도체 장치 구조에 대한 상세하고 정확한 분석을 제공하기 위해 설계된 고정밀, 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. MicroVal 343은 미세 피치 와이어 본드, 식각 라인, 금속 라인, 접촉 패드 및 기타 구조 (입자 검사 또는 결함 0.5äm 감소) 를 정확하게 분석 할 수 있습니다. 이 시스템은 아트 옵틱 (Art Optic) 의 상태 및 조명 기술을 갖춘 고급 옵티컬 모듈 (Optical Module) 을 갖추고 있으며, 운영자는 최대 10mm 두께의 웨이퍼 (Wafer) 를 포함하여 모든 크기 샘플의 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 모듈에는 다양한 재료의 특징을 파악하기 위해 브라이트필드 (brightfield), 다크필드 (darkfield) 및 극성 이미징 (polarized imaging) 이 장착되어 있습니다. 또한 샘플을 빠르고 정확하게 정렬하고 배치할 수 있는 다양한 자동 루틴 (automated routine) 을 제공합니다. BROWN&SHARPE MicroVal 343은 매우 효율적이며, 정확한 측정 및 데이터 획득에 소요되는 시간을 최소화하는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. '실시간 오류 확인 (real-time error checking)' 을 통해 중요한 측정을 수행할 수 있으며 프로세스 변형을 진단하고 관리할 수 있는 강력한 툴셋도 있습니다. 이 장치는 검사 및 스캔 기능 외에도 OCR (Optical Character Recognition) 및 통계 분석 알고리즘을 포함한 다양한 데이터 분석 도구를 제공합니다. 이를 통해 대용량 디바이스 구조나 자산을 정확하게 분석할 수 있으며, 모든 차이나 오류를 신속하게 파악할 수 있습니다. "MicroVal (TM) 343 '의 소프트웨어와 하드웨어는 완전히 통합되어 특정 사용자 요구 사항을 쉽게 충족할 수 있도록 시스템을 사용자 정의할 수 있습니다. 예를 들어, 이 도구를 설정하여 샘플에 대한 자동 측정 (automated measurements) 이나 분석 (analysis) 을 수행하거나, 특정 응용 프로그램에 대한 매개변수를 수동으로 설정할 수 있습니다. 이러한 유연성과 사용자 정의를 통해 BROWN&SHARPE MicroVal 343은 마스크 및 웨이퍼 검사를 위한 매우 효율적이고 효율적인 도구입니다.
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