판매용 중고 AUROS TECHNOLOGY API-2500 #9205487

AUROS TECHNOLOGY API-2500은 반도체 제조를 위해 고정밀도, 고정밀도 측정을 제공하기 위해 설계된 최고의 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 고급 독점 이미지 처리 및 분석 기술을 사용하여 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer) 의 결함을 식별하고 분리하고, 광마스크 (photomask) 의 표면 불완전성 및 변형을 나타냅니다. API-2500 은 0.1 "미크론 '의 정확도로 검사하며 빠르고 안정적으로 제공함으로써 비용을 절감하고 웨이퍼 수율을 향상시키는 데 도움이 됩니다. 이 장치를 사용하면 여러 각도에서 이미지를 캡처하고, 웨이퍼 검사를 위해 최대 두 개의 뷰 (view) 필드를 설정할 수 있습니다. 단일 웨이퍼, 양면 또는 다중 레이어 웨이퍼를 스캔하여 결함을 감지 할 수 있습니다. AUROS TECHNOLOGY API-2500 기계는 크롬, 블록, 크롬 및 쿼츠 기판의 크롬으로 만든 포토 마스크도 검사합니다. API-2500 (API-2500) 은 검사 된 표면의 정확한 3 차원 메쉬를 생성하며, 이후 분석의 결함을 식별하고 표시하는 데 사용할 수 있습니다. 표면 결함과 매장 된 레이어 (하위 표면) 결함을 비교할 수없는 정확도로 감지 할 수 있습니다. AUROS TECHNOLOGY API-2500은 전자 빔 및 광학 영상, 레이저 간섭법, 산란 측량, 백광 간섭법, X- 선 영상, 스캐닝 터널링 전자 현미경 (STM) 및 원자력 현미경 (AFM) 을 포함한 다양한 기술로 검사합니다. 또한 픽셀별 분광사진법으로 Photomask를 검사하여 정확한 확산, 전방 및 총 반사 이미지를 기록합니다. API-2500에는 고급 이미지 분석 기능이 있으며, 이는 지각 및 정량 결함 측정을 모두 수행할 수 있습니다. 뛰어난 정확도로 AUROS TECHNOLOGY API-2500은 높은 정확도로 철저한 결과를 제공 할 수 있습니다. 프로세스, 비 프로세스 및 PCB 관련 3 가지 범주 중 하나에 각 결함을 할당하여 wafer 항복 분석 지원을 향상 할 수있는 3 영역 기능이 있습니다. 또한 3- 존 (3-zone) 기능은 사용자가 AUROS에서 제공하는 웨이퍼 맵을 참조하여 많은 결함의 근본 원인을 식별하는 데 도움이됩니다. 또한 API-2500은 통합 자동 웨이퍼 처리, 변위 단계, 고급 장애 안전 제동 도구, 통합 PC 기반 웨이퍼 핸들러 제어 기능 등을 갖추고 있으며, 이는 웨이퍼 검사 중에 쉽고 안정적인 웨이퍼 로딩 및 언로드를 제공하도록 설계되었습니다. 또한 현미경 기반의 자동 정렬 기 (automated aligner) 를 사용하여 검사를위한 웨이퍼를 정확하게 정렬할 수 있습니다. AUROS TECHNOLOGY API-2500 의 강력한 하드웨어 외에도, 이 자산은 강력한 통합 소프트웨어 플랫폼을 제공합니다. 소프트웨어 플랫폼은 웨이퍼 (wafer) 와 포토마스크 (photomask) 의 결함을 자동으로 식별하고 분류하여 검사 시간을 단축합니다. 이 소프트웨어는 사용자 정의 스크립트에 대한 다양한 프로그래밍 언어와 고급 사용자를 위한 기본 (BIST) 스크립팅 언어를 지원합니다. API-2500 (API-2500) 은 특징과 첨단 검사 기술을 통해 반도체 업계를 위한 귀중한 툴로서, 안정적이고 정밀한 검사와 결과를 제공합니다. 이 모델은 품질 관리 (Quality Control) 를 최적화하고 비용 절감과 웨이퍼 수익률 향상을 위해 설계되었습니다.