판매용 중고 ASM TIB 139 #9299596

ASM TIB 139는 반도체 마스크 및 웨이퍼의 반자동 검사를 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 5 메가 픽셀, CCD 디지털 카메라 및 나노 미터 크기의 3D 이미징 목표와 자동 스테이지 유닛, 마스크 및 웨이퍼 조명기를 결합합니다. 이를 통해 공구는 생산 중 마스크 또는 웨이퍼의 표면 결함, 입자, 스크래치를 감지할 수 있습니다. 이 자산은 또한 카메라와 조명모델을 상품화· 교정해 정확한 이미지를 얻을 수 있다. & # 160; & # 160; TIB 139는 접촉 및 비 접촉 검사, 마스크 정렬 대 웨이퍼 좌표, 웨이퍼 -ID 및 일련 번호 다이 매핑 등 다양한 기능에 사용할 수 있습니다. 이 장비는 검사 작업을 자동화하고, 수작업 (manual labor) 의 양을 줄여 생산성을 높이도록 설계되었습니다. 또한, 시스템을 자동으로 인식하고 결함 있는 마스크와 웨이퍼를 거부하도록 프로그래밍 할 수 있습니다. ASM TIB 139는 Deep UV (DUV) 리소그래피, 포토 esist 및 기타 코팅 프로세스를 포함한 다양한 반도체 프로세스를 검사하는 데 사용될 수 있습니다. 이 장치는 다른 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 (mask) 형식을 보정할 수 있으며, 다른 노출 용량과 초점 깊이를 자동으로 보정할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 생산 중 시각 결함을 정찰하는 데 사용될 수 있으며, 또한 볼 수없는 입자 (sub-visible particle) 로 인한 오염을 확인하는 데 사용될 수 있습니다. TIB 139는 손쉬운 운영 및 유지 관리를 위해 설계되었습니다. 이 도구에는 대형 터치스크린 모니터 (Touch-Screen Monitor) 가 장착되어 있어 자산을 빠르고 쉽게 탐색하고 제어할 수 있습니다. 또한, 이 모델에는 수동 (manual) 및 자동 (automatic) 작업 모드와 종합적인 데이터 로깅 장비가 포함되어 있으며, 이를 통해 사용자는 검사 데이터를 기록 및 추적할 수 있습니다. ASM TIB 139는 반도체 마스크와 웨이퍼를 검사하는 편리하고 직관적인 방법입니다. 이 시스템은 생산량 (production volume) 과 효율성 (efficiency) 을 높이고 수작업 (manual labor) 의 양을 줄이도록 설계되었습니다. 자동 검사 (automated inspection) 기능을 통해 표면 결함, 입자, 긁힘을 빠르고 정확하게 감지하여 제품의 품질을 보장할 수 있습니다.