판매용 중고 ASM TIB 139 #9299366

ASM TIB 139는 웨이퍼 다이빙 프로세스를 위해 특별히 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. ASM (Advanced Semiconductor Manufacturing) 제품군의 일부입니다. TIB 139는 고급 광학 빔 패턴 (optical beam pattern) 기술을 사용하여 웨이퍼 표면을 검사하여 잠재적 인 미세 결함을 감지합니다. 이 시스템은 특별히 설계된 대형 광학 테이블, 이미지 처리 장치, 고해상도 카메라로 구성되어 있습니다. 게다가, 이 제품은 다양한 배율로 웨이퍼 (wafer) 표면의 전체 현장 검사를 용이하게 하는 고급 (high-grade) 광학 및 소프트웨어 어레이를 지원합니다. 큰 광학 테이블 (optical table) 을 사용하면 웨이퍼 표면의 최대 10 미크론 면적을 검사할 수 있으며, 눈에 띄는 최대 50 nm 해상도는 표면에서 가장 작은 결함까지도 감지 할 수 있습니다. 장치에 포함 된 카메라는 2560X2048 동적 범위의 CCD 해상도 2048 × 1536입니다. 또한 다양한 필터가 포함되어 있는데, 이 필터는 이미지 품질을 향상시키고 더 나은 분석을 가능하게 하는 데 필수적입니다. 다른 웨이퍼 크기를 수용하기 위해 ASM TIB 139에는 교환 가능한 로딩 트레이도 제공됩니다. 컴퓨터에 포함된 소프트웨어는 고급 이미지 분석 (Advanced Image Analysis) 및 정확한 측정 및 계산을 지원합니다. "이미지 '를 서로 다른 각도로 분석하고 결함에 대한 교정 동작 지침을 표시하여 이상과 불규칙성을 감지 할 수 있다. 이렇게 하면 웨이퍼가 원하는 표준을 충족할 수 있습니다. TIB 139 툴도 신뢰성이 높으며 대용량 생산 환경에서 사용할 수 있습니다. 이 제품은 우수한 품질의 웨이퍼를 생산할 수 있으며, 결함이있는 표면 검사 (surface inspection) 로 인한 폐기물 감소에 도움이됩니다. 고성능, 안정성, 사용자 친화적인 기능을 통해 Wafer Dicing 프로세스에 이상적인 선택이 가능합니다.