판매용 중고 ASM LBE 139 #9217594

ASM LBE 139 (ASM LBE 139) 는 반도체 칩의 제조 공정에서 정확한 웨이퍼 및 마스크 검사를 보장하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 고급 주사 전자 현미경 (SEM (Advanced Scanning Electron Microscopy) 기술을 사용하여 다양한 칩 설계에 대한 넓은 시야를 제공합니다. 이 장치에는 최고의 이미지 품질을 제공하는 넓은 거리 (work distance) 의 정렬 및 piezo 확대/축소 기능이 포함되어 있습니다. 이 열 설계는 사용자가 검출기 (detector) 패키지를 혁신적으로 사용할 수 있도록 기본 압력 환경이 매우 낮습니다. 4K CCD 카메라는 우려 영역을 감지하고 칩 기능을 정확하게 식별하는 데 사용됩니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 과 넓은 시야 (Field-of-View) 는 결함 있는 칩 또는 마스크 영역을 포함하여 칩 기능에 대한 상세한 이미징을 제공합니다. 이 소프트웨어는 다양한 재료 (예: 웨이퍼 제작에 사용되는 재료) 로부터 자동 패턴 인식 (automated pattern recognition) 및 결함 감지 (defect detection) 기능을 제공합니다. 고급 음영 교정 (Shading Correction), 밝기 교정 (Brightness Correction), 스티칭 (Stitching) 및 이미지 처리 (Image Processing) 와 같은 다양한 측정 및 이미지 처리 도구를 사용하여 사용자는 다양한 응용 프로그램의 결함을 검사할 수 있습니다. 이 기계는 열 보조 증착 (Thermally Assisted Deposition) 과 같은 다른 정적 및 동적 도량형 도구와 쉽게 통합 될 수 있습니다. 이 툴은 모든 구성 요소를 최대한의 유연성 (Flexibility) 을 위해 최적화하여 높은 수준의 구성 기능을 제공합니다. LBE 139 는 고급 반도체 칩 (chip) 설계에 사용되는 신기술을 테스트· 개발하기 위해 제작됐다. 이 자산은 사용자가 마스크 및 웨이퍼 검사 (wafer inspection) 분야에서 가장 진보된 기술을 제공하며, 더욱 정확하고 향상된 수율 생산량을 제공합니다.