판매용 중고 ASM IBE 139 #293637813

ASM IBE 139 는 모든 기능을 갖춘 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 반도체 웨이퍼 및 마스크에 대한 정확하고 깨끗한 이미지 분석을 제공합니다. 생산 과정에서 개별 트랜지스터 (transistor) 와 컴포넌트 (component) 의 배치를 정확하게 감지하고 잠재적 결함을 찾아내도록 설계되었습니다. 이 시스템은 주요 생산 장애물이 되기 전에 잠재적인 문제를 신속하게 파악할 수 있는 효과적인 도구를 제공합니다 (영문). ASM IBE139 (ASM IBE139) 는 강력한 디지털 이미징 프로세서를 탑재한 강력한 광학 현미경 장치 (Optical Microscope Unit) 로, 웨이퍼와 마스크의 정확하고 높은 확대 이미지를 제공합니다. 현미경은 전동식 XYZ 단계에 장착되며, 몇 미크론 정도의 작은 섹션에서 이미지 샘플을 찍도록 설계되었습니다. 또한, 이 현미경은 고감도, 다이내믹 레인지 CCD 카메라를 사용하여 반도체 웨이퍼 (wafer) 의 외부 레이어 이미지와 표면 아래의 레이어를 캡처합니다. 정확한 결함 식별 및 분석을 용이하게하기 위해, IBE 139 는 고급 알고리즘을 사용하여 결함을 정확하게 파악하고 확대하는 강력한 이미지 처리 엔진 (image processing engine) 을 갖추고 있습니다. 이러한 알고리즘을 사용하면 시스템이 이미지 샘플을 클린 웨이퍼 이미지 (Clean Wafer Image) 의 데이터베이스와 신속하게 비교할 수 있으며, 변형이나 불규칙성을 효과적으로 감지할 수 있습니다. 이 도구를 사용하면 각기 다른 수준의 이미지 () 간의 차이점에 대한 자세한 벡터 분석 (vector analysis) 을 통해 가장 작은 결함까지도 식별하고 격리할 수 있습니다. 강력한 이미징 프로세서 외에도, IBE139 는 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 통해 사용자가 자산을 빠르고 쉽게 제어하고 모니터링할 수 있습니다. 이 모델은 결함 로컬라이제이션, 주석, 자동 테스트 패턴 인식 (Test Pattern Recognition) 과 같은 기능을 지원하는 통합 데이터 매니저를 갖추고 있습니다. 이렇게 하면 "와퍼 '나" 마스크' 의 부분 을 신속 히 격리 시킬 수 있다. 이 장비는 또한 실시간 경고 (alerting) 기능을 제공하여 사용자가 감지된 프로덕션 문제를 신속하게 알릴 수 있습니다. ASM IBE 139는 향상된 성능, 안정성 및 운영 효율성도 제공합니다. 이 시스템은 안정적인 운영 및 장기적인 내구성을 보장하도록 설계된 독점 하드웨어 플랫폼을 사용합니다. 또한, 이 장치는 다양한 소프트웨어 툴과 쉽게 통합되어 자동 매크로 작업 (automated macro operation) 을 비롯한 wafer 및 mask 검사의 자동화를 용이하게 할 수 있습니다. 결과적으로, ASM IBE139는 정확하고 안정적인 검사 결과를 요구하는 고효율 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 제조업체에 이상적인 선택입니다.