판매용 중고 AND BAS-3230HD #9382428

AND BAS-3230HD Mask & Wafer Inspection 장비는 강력한 검사 기능을 갖춘 종합적이고 유연한 시스템입니다. 이 인라인 웨이퍼 레벨 검사 장치는 최첨단 레이저 스캔 현미경 (LSM) 을 사용하여 마스크 및 웨이퍼 구조의 자동 및 수동 검사를 수행합니다. 고급 이미지 처리 기술을 통해 BAS-3230HD는 웨이퍼 및 마스크 데이터 모두에서 매우 작은 결함 AND 변형을 감지 할 수 있습니다. 이 기계는 다른 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템보다 더 빠르고 정확한 테스트 결과를 제공합니다. 고해상도 5 메가 픽셀 (5 Megapixel) CCD 카메라는 마스크 또는 웨이퍼의 각 레이어에 대한 명확한 이미지를 취하고 강력한 이미지 처리 기술은 데이터를 분석하여 불규칙성 또는 결함의 원인을 식별합니다. 이 도구는 또한 "초점 내 (in-focus)" 논리 계산과 같은 특수 알고리즘을 사용하여 가장 어려운 결함조차도 감지합니다. 또한, 다양한 인터페이스는 다양한 소프트웨어 응용 프로그램을 수용하여 테스트 결과 평가 및 보고 (test result evaluations AND reporting) 를 사용자 정의할 수 있습니다. AND BAS-3230HD의 견고한 설계로 안정적인 작동이 보장됩니다. 매우 조용한 작동으로 주변 소음 수준에 방해가되지 않습니다. 또한 온도 및 습도의 환경 변화를 견딜 수 있도록 제작되었습니다. 그리고 IPX4 방수 등급은 안전하고 신뢰할 수있는 작업 환경을 보장합니다. 이 자산에는 고객의 요구 사항에 따라 테스트를 사용자 정의하는 포괄적인 테스트 매개변수 (test parameter) 가 제공됩니다. 직관적인 소프트웨어를 통해 사용자는 테스트 매개변수를 빠르게 설정하고 최소한의 노력으로 검사를 시작할 수 있습니다 (영문). 또한, 이 모델에는 아이콘이 크고 그래픽 디스플레이가 지워진 사용자 친화적 인 터치 스크린 작업 패널이 있습니다. BAS-3230HD의 고성능 제품은 집적 회로 (IC) 칩 제조, 태양 전지 및 반도체 장치 제조, AND 반도체 구조 및 장치 연구와 같은 마스크 및 웨이퍼 검사 응용 프로그램에 이상적입니다. 무엇보다도, AND BAS-3230HD는 매우 효율적이고 정확한 장비로, 다양한 고객 요구 사항을 충족할 수 있는 사용자 친화적인 운영 및 포괄적인 테스트 기능을 제공합니다.