판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS WF 736 #9026245

AMAT/APPLIED MATERIALS WF 736은 고급 패턴 웨이퍼에 대한 종합적이고, 정확하며, 신뢰할 수 있는 검사를 수행하도록 설계된 자동, 하향식 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 고객의 운영 플랫폼 및 워크플로우와 통합 될 수 있습니다. 즉, 반도체, 태양광 및 RF (Radio Frequency) 장치에 대한 가장 엄격한 요구 사항을 해결할 수 있습니다. AMAT WF 736은 고해상도 프로젝션 광학, 자동 측정 도구, 업계 최고의 이미지 처리 소프트웨어를 사용하여 종합적인 웨이퍼 레벨 검사 결과를 제공합니다. 이 장치 는 미세 조작 된 최상 의 특징 과, 입자, "트랜지터 ', 반바지 와 같은 중대 한 결함 문제 를 탐지 할 수 있다. 이 시스템의 고해상도 데이터 분석 툴은 다양한 디바이스/프로세스별 과제를 해결하도록 설계되었습니다. APPLIED MATERIALS WF 736은 특허를받은 자동 검사 알고리즘을 사용하여 높은 정확도로 빠른 검사 속도를 제공합니다. 이 도구에는 고급 검토/분석 도구 (Advanced Review and Analysis Tools) 도 포함되어 있으며, 사용자에게 명확하고 정확한 분석 및 문제 식별을 제공합니다. 또한, 자동 매크로 검사 (macro-inspection) 및 이미지 데이터 해석 기능의 조합을 통해 이 자산은 웨이퍼가 프로덕션으로 이동하기 전에 잠재적 인 프로세스 및/또는 장비 문제를 식별하고 수정할 수 있습니다. WF 736은 다중 레벨 구조, 플립 칩 컴포넌트, 여러 개의 씬 레이어 금속 스택 등 다양한 구조와 기판을 지원합니다. 이 모델은 다양한 디바이스 크기와 운영 처리량 (production throughput) 요구 사항을 충족할 수 있는 모듈식, 확장 가능한 설계를 갖추고 있습니다. 또한, 보다 특화된 애플리케이션에 대한 사용자 지정 검사를 위해 다양한 프로그램 모듈 및 스크립트 수준 명령을 지원합니다. AMAT/APPLIED MATERIALS WF 736은 유용한 관리 및 보고 도구를 제공하여 데이터 검토 및 분석, 수정 작업 계획, 부품 분류 등의 작업을 간편하게 수행할 수 있습니다. 이 장비의 기술은 고급 마스크 및 웨이퍼 심문을 제공하여 최고 수준의 결함 감지를 보장합니다. 고급 이미지 분석 (advanced image analysis) 및 투영 알고리즘을 사용하면 장치 구조의 여러 계층에 존재하는 다이-투-다이 (die-to-die) 결함을 신속하게 파악하고 정확하게 찾을 수 있습니다. 또한, 이 시스템의 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 는 여러 애플리케이션에 대한 사용 편의성과 단위 사용자 정의를 보장합니다.