판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9375217

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4는 반도체 제조 산업의 요구를 충족하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 장치는 고속, 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 및 자동 패턴 인식 (automated pattern recognition) 기능을 제공하여 마스크와 웨이퍼의 결함을 감지할 수 있습니다. AMAT UVision 4는 MLT (Multi-Layer Thickness) 매핑 및 SEMI 표준 입자 분석을 사용합니다. MLT 매핑 (MLT mapping) 기능을 사용하면 마스크 또는 웨이퍼 레이어의 횡단면 두께와 저항성을 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 데이터는 결함 감지 프로세스를 향상시키는 데 사용됩니다. 반 표준 입자 분석 (SEMI-standard particle analysis) 은 임계 마스크 및 웨이퍼 영역에서 외국 입자를 감지하고 식별하기 위해 이미지의 획득 및 분석을 지원합니다. 이 고급 입자 분석 시스템 (advanced particle analysis system) 은 현미경에서 보이는 입자와 보이지 않는 입자를 분류하고 구별하는 기능을 제공합니다. 이 장치에는 고효율 픽셀 기반 왜곡 보정기 (distortion correction machine) 가 장착되어 있으며, 전체 해상도 범위에서 광학 수차를 수정합니다. 이렇게 하면 이미지에 객체가 올바르게 표시됩니다. 이 도구는 또한 검사 이미지가 마스크 (mask) 나 웨이퍼 (wafer) 에 투사되는 조건을 사용자 정의할 수 있습니다. 따라서 특정 기준에 따라 조건을 최적화할 수 있습니다. APPLIED MATERIALS UVision 4는 제조 환경을 위해 설계되었으며 강력한 크롬 알루미늄 하우징을 제공합니다. 이 설계를 통해 빠른 변경으로 지속적인 생산이 가능합니다. 자산은 고급 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 통합되어 모든 검사 도구에 쉽게 액세스할 수 있습니다. 또한 이 인터페이스는 애플리케이션 템플릿을 저장/회수할 수 있는 기능을 제공하여 여러 이미지와 툴을 쉽게 설정할 수 있게 해 줍니다 (영문). 이 모델은 자동화 된 응용 프로그램을 위해 로봇 플랫폼에 통합 될 수도 있습니다. 이렇게 하면 각 개체 (object) 에 설정이 적용된 여러 객체를 자동으로 검사할 수 있습니다. UVision 4 (UVision 4) 는 마스크 및 웨이퍼 결함을 빠르고 정확하게 감지 할 수있는 안정적인 검사 장비가 필요한 반도체 제조업체에 이상적인 선택입니다. 고급 기능과 견고성 강화 (Rugged) 설계를 갖춘 AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4는 프로덕션 환경을 위한 완벽한 선택입니다.