판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9293623

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Mask 및 Wafer Inspection 장비는 결함 식별 및 특성화를위한 업계 최고의 종합 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 고급 고출력, 자외선 (UV) 레이저 탐지 기술을 활용하여 포토 마스크 및 웨이퍼에 대한 고속 검사를 제공합니다. 결함을 감지하고 특성화하는 기능과 클러스터 결함을 감지하는 기능을 통해, AMAT UVision 4 는 가장 포괄적이고 정확한 결함 식별을 가능하게 합니다. APPLIED MATERIALS UVision 4는 가장 효율적이고 안정적인 웨이퍼 및 포토 마스크 검사를 제공하기 위해 개발되었습니다. 이 장치는 고해상도 레이저 슬릿 스캔 및 시야각 (FOV) 을 특징으로하며, 이 장치를 통해 5 m 수준 이하의 결함을 감지하기가 가장 어렵고 빠르고 정확하게 검사 할 수 있습니다. 또한, UVision 4의 고급 레이저 래스터 처리는 일정한 이미지 강화로 타의 추종을 불허하는 감도 및 균일 한 커버리지를 허용합니다. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4는 또한 뛰어난 결함 특성 기능을 제공합니다. 레이저 특정 감지 알고리즘과 강력한 디지털 이미지 처리 (Digital Image Processing) 의 조합을 통해 기계는 웨이퍼 및 포토 마스크에서 2 차원 및 3 차원 결함을 정확하게 특성화할 수 있습니다. 이 도구는 결함의 피쳐 유형 (feature type), 인쇄 밀도 (print density) 및 서피스 지형 (surface topography) 을 구분하는 기능을 통해 비교할 수 없는 특성 정밀도를 제공합니다. 결함 특성 외에도 AMAT UVision 4는 에셋의 데이터를 관리하고 제시하도록 설계된 강력한 소프트웨어 제품군을 제공합니다. Auto Defect Reconciliation, Defect Clustering, Defect Type Returns, Auto Adaptive Statistics 및 Bulk Map Segmentation과 같은 고급 소프트웨어 기능을 사용하면 검사 결과를 신속하게 분석하고 잠재적 품질 문제의 원인을 확인할 수 있습니다. APPLIED MATERIALS UVision 4 Mask and Wafer Inspection 모델은 5m 이하의 결함을 식별하고 특성화하기위한 업계 최고의 솔루션입니다. 고해상도 레이저 감지 및 강력한 Digital Image Processing을 사용하여 UVision 4는 웨이퍼 및 포토 마스크에서 2 차원 및 3 차원 결함을 정확하게 감지하고 특성화할 수 있습니다. 결함 유형 (type), 인쇄 밀도 (print density) 및 표면 지형을 인식할 수 있는 기능을 통해 사용자는 최고 품질의 제품을 제조할 수 있습니다. 이 장비는 강력한 이미징 (Imaging) 소프트웨어의 지원을 받으며, 검사 결과를 신속하게 분석하고 모든 품질 (Quality) 문제의 원인을 파악할 수 있도록 설계되었습니다.