판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200 #9158469

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AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200
판매
ID: 9158469
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2005
Inspection system, 12" (2) Load port Resolution: 80nm Configuration and optional: Pixel sizes: 0.08, 0.12, 0.16, 0.22, 0.26, and 0.6um BF & GF Laser illumination (DUV)+ PMT detection 2005 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200 Mask and Wafer Inspection Equipment는 웨이퍼 및 레티클의 전체 필드 이미징 및 분석을 제공하는 전체 필드 검사 시스템입니다. 이 최첨단 장치는 현재 반도체 제작 프로세스 단계 (사용 가능한 모든 석판화 기술 포함) 의 결함을 빠르고 정확하게 감지하고 분석할 수 있도록 설계되었습니다. 이 기계는 FITS (High-Resolution Combined Imaging), 신뢰할 수있는 고속 이미징 광학, 통합 웨이퍼 및 레티클 정렬 기능과 같은 다양한 고급 디지털 이미징 기술을 통합합니다. AMAT UVision 200 도구는 무제한의 현장 기능을 갖춘 높은 처리량 이미징 및 분석 자산을 제공합니다. 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 과 통합 초고속 (Ultra-Level) 형태 분석 알고리즘을 결합하면 가장 작은 결함까지도 빠르고 정확하게 찾을 수 있습니다. 고해상도 이미징, 최첨단 분석 알고리즘, 빠른 검사 속도를 갖춘 APPLIED MATERIALS UVision 200 을 통해 반도체 작업자가 신속하게 결함을 파악하고 고가의 수선 또는 제조 지연을 피할 수 있습니다. 정확하고 안정적인 결과를 얻기 위해, UVision 200 장비에는 일련의 특수 정렬 기능이 장착되어 있어 웨이퍼 (wafer) 및 레티클 (reticle) 분야에서 일관된 이미지 품질을 제공합니다. 이 시스템은 자동화된 광 정렬 (optical alignment) 을 갖추고 있어 광학 정렬 매개변수를 조정하고, 검사된 객체를 이미징 도구에 정확하게 정렬할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 정렬 제어에 대한 수동 액세스를 허용하여 정확성을 더욱 보장합니다. 또한, 이 기계는 고성능 이미지 분석 기능으로 결함 데이터를 신속하게 분석하도록 설계되었습니다. 이 도구는 종합적인 이미지 정보를 제공하고 가장 짧은 결함을 감지하는 고유한 이미징 (Imaging) 도구를 사용합니다. 이 자산에는 고급 자동 분석 (auto-analysis) 기능이 장착되어 있어 수작업 없이 신속하게 결함 데이터를 분석할 수 있습니다. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200 (AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200) 은 현재 및 향후 프로세스에 대해 정확하고 안정적인 검사를 수행하도록 설계된 반도체 프로세스에 이상적인 이미징 및 분석 모델입니다. 고급 이미징, 분석, 정렬 기능을 통해 반도체 작업자의 비용을 절감하고 결함이있는 제조를 최소화할 수 있습니다.
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