판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293750168

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision은 반도체 제조업체가 마스크, 웨이퍼 및 기타 프로세스 관련 재료를 빠르고 정확하게 검사 할 수있는 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 다양한 이미징 기술을 활용하여 결함 감지, 광학 검사, 도량형 측정, 통합형 소프트웨어 플랫폼 (Software Platform) 을 활용하여 데이터 처리 및 분석을 지원하므로 프로세스 최적화, 프로세스 제어, 생산성 향상에 이상적입니다. AMAT SemVision 검사 장치는 brightfield, 4 사분면, 이중 파장 등 다양한 형식으로 이미지를 수집하고 처리할 수 있습니다. 또한 입자 검사, 모서리 분석, 선 스캔, 최적화된 RGB 프로파일링을 위한 색상 처리 등 다양한 이미지 분석 도구를 사용할 수 있습니다. 검사기에는 고해상도 CCD 칩이 장착된 HD CCD 카메라와 다양한 이미징 기능을 제공하는 다양한 옵틱이 있습니다. 정확성과 신뢰성 측면에서, APPLIED MATERIALS SemVision 도구는 고급 패턴 인식 및 심층 학습 알고리즘과 정확한 결함 감지 및 도량형을위한 고급 알고리즘을 갖추고 있습니다. 머신 러닝 (machine learning) 기술은 다양한 프로세스 재료의 다양한 기능을 식별하고 분류하기 위해 자산을 훈련시키는 데 사용될 수 있으며, 종합적인 이미지 비교 라이브러리 (comparison library) 를 제공합니다. 또한 셈 비전 (SemVision) 모델은 마스크 또는 웨이퍼 서피스에서 다양한 피쳐의 크기와 모양을 측정하는 에지 검출 (edge detection) 과 자동 결함 분석 (automatic defect analysis) 을 수행하여 향상된 수율 특성을 측정할 수 있습니다. 획득한 모든 이미징 데이터는 AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Suite 소프트웨어와 호환되는 파일 형식으로 변환되어 완벽한 결함 관리 및 추적 기능을 제공합니다. 또한, 이 소프트웨어는 결함 특성, 토폴로지 분석, 자동 결함 분류, 데이터 시각화 (visualization) 옵션을 위한 강력한 도구를 제공합니다. 또한 AMAT SemVision 은 다양한 프로세스 모니터, 멀티 포트 및 사이클 분석 툴을 제공하여 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 프로세스 유지 관리를 지원합니다. 결론적으로 APPLIED MATERIALS SemVision은 반도체 제조업체에 이상적인 고급 검사 장비로, 자동화된 결함 감지 및 분석, 이미지 처리, 통합 프로세스 모니터링, 제품 수율 향상 등의 기능을 제공합니다. 고급 이미징 및 소프트웨어 기능을 갖춘 SemVision 시스템은 업계 최고의 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 시스템 중 하나입니다.