판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision HP G2 #9287516

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AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision HP G2
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ID: 9287516
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision HP G2는 완전 자동화 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 제조업체가 웨이퍼 (Wafer) 와 마스크 (Mask) 수준에서 칩을 검사하고 검증할 수 있도록 설계되어 있어 최고 품질의 컴포넌트가 생산됩니다. 이 시스템은 고급 머신 비전 기술 (Advanced Machine Vision Technology) 과 결함을 감지하기위한 알고리즘 라이브러리 (Library of Algorithm) 를 통해 시간당 최대 32 개의 웨이퍼를 검사 할 수 있습니다. AMAT SemVision HP G2에는 다이 투 다이 (Die to Die), 다이 투 데이터베이스 (Die to Database), 표준 편차 매핑 검사 등 여러 가지 고급 검사 기능이 있습니다. 저전력 UV LED (UV LED), 텅스텐 램프 (Tungsten Lamps), 수은 램프 (Mercury Lamps) 등에서 선택할 수 있는 광원이 장착되어 다양한 검사 작업을 처리할 수 있습니다. 이 장치에는 최대 해상도 9.85 미크론을 제공하는 7.3 메가 픽셀 고해상도 검사 카메라가 장착되어 있습니다. 강력한 Software LightKill (tm) 은 과도한 빛으로 인한 결함을 감지하고 제거할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 마스크 및 웨이퍼를 모두 검사하여 웨이퍼 정렬, 회로 결함 감지, 배선, 너비, 라인 엔드 등의 중요한 기능을 수행할 수 있습니다. 또한 액체, 기름, 먼지와 같은 입자를 감지하여 정확한 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한, 이 도구는 다이 에지 검사 (die edge inspection), 고밀도 장치 (high-density device) 를 위한 완전한 에지 커버리지를 제공하여 최고의 정확성과 신뢰성을 제공합니다. APPLIED MATERIALS SemVision HP G2는 사용이 쉽고 효율적이도록 설계되었습니다. 단순한 사용자 인터페이스 (user interface) 가 특징이며, 유지 관리가 용이하므로 표준 정기 유지 보수가 필요합니다. 또한 고속 (high-speed) 데이터 전송 자산 (data transfer asset) 을 갖추고 있어 제조업체의 내부 시스템과 모델 간에 파일을 자동으로 전송할 수 있습니다. 옵션으로 제공되는 AutoFoucs 장비는 수동 초점 조정, 효율성 및 정확성 향상 등을 필요로 하지 않습니다. 고급 머신 비전과 자동 데이터 전송을 통해, SemVision HP G2는 안정적이고 정확한 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템입니다. 이 제품은 제조업체가 구성요소의 최고 수준의 품질과 성능을 보장하는 한편, 효율성과 비용 절감 효과를 높일 수 있도록 지원합니다 (영문).
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