판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9274013

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3는 최고 수준의 광 성능 및 이미지 품질을 제공하는 Mask & Wafer Inspection Equipment로, 마스크와 웨이퍼를 가장 정확하게 배치하고 정렬할 수 있습니다. 시스템은 결함 감지, 오버레이 측정, 3D 프로파일로메트리 등 다양한 응용 프로그램에 사용할 수 있습니다. AMAT SemVision G3는 반도체 업계에 탁월한 이미징 및 검사 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 고급 이미징 기술과 자동 알고리즘을 사용하여 정확한 결함 감지, 오버레이 측정, 3D 프로파일로메트리 (profilometry) 기능을 제공합니다. 이 장치는 3 개의 독립적 인 이미징 시스템 (결합되면) 을 사용하여 탁월한 성능을 제공합니다. 이러한 시스템에는 거의 보이는 이미징 기계 (NIS), 전자 빔 쓰기 도구 (EBS) 및 결합 된 웨이퍼 및 마스크 검사 자산 (WMIS) 이 포함됩니다. NIS 는 넓은 시야에서 나노미터 크기의 기능을 특성화하는 광 해상도를 제공합니다. 또한 매우 작은 미세 결함 또는 구조를 감지하고 측정 할 수 있습니다. NIS 및 EBS 시스템의 조합은 임계 정렬 측정에서 가장 높은 정확도를 허용합니다. WMIS는 결합 된 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 검사 모델로, 고급 이미징 기술 및 알고리즘을 사용하여 정확한 결함 감지 및 중첩 측정 기능을 제공합니다. 이 장비는 2 차원 (2D) 비디오 이미징 및 3D 스캔 기술을 사용하여 사용자가 웨이퍼와 마스크를 정확하게 분석하고 측정 할 수 있습니다. APPLIED MATERIALS SemVision G3에는 자동 교정 및 작동, 16 비트 해상도 이미징, 임베디드 Metrology 3D Laser Confocal Microscope (LCM) 및 통합 소프트웨어 제어 측정 및 분석 시스템과 같은 다양한 다른 기능도 있습니다. SemVision G3는 빠르고 정확한 마스크, 웨이퍼 (wafer) 검사 및 특성화에 이상적인 솔루션으로, 반도체 전문가가 고품질 제품과 서비스를 제공할 수 있습니다. 광범위한 기능, 고급 이미징/분석 기능을 통해 모든 반도체 어플리케이션에 이상적인 선택이 됩니다.