판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9287515

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite는 고급 마이크로일렉트로닉 장치를 안정적이고 효율적으로 검사하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 고해상도 준 입자 이미징, 경량 광학 (Light-Field Optic) 및 고유 한 패턴 인식 모듈 (Pattern Recognition Module) 과 같은 기능을 사용하여 뛰어난 결함 감지 및 보고 기능을 제공합니다. AMAT SemVision G3 Lite (AMAT SemVision G3 Lite) 에는 고급 컬러 LED 조명이 장착되어 있어 조명되지 않은 샘플의 패턴 차이를 정확하게 측정할 수 있으며, 광범위한 재료를 검사할 수 있습니다. 또한 표본의 150nm 해상도 이미지를 표시하는 섬광 화면 투사 (scintillating screen projection) 가 특징이며, 사용자에게 서브 미크론 결함의 감지를 돕기 위해 상세한 이미지를 제공합니다. 기계의 자동 측정 (auto-measurement) 기능은 다양한 패턴 분석 기술을 사용하여 모양, 크기 및 회색 레벨 피쳐를 감지합니다. 따라서 각 피쳐의 특성을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 고유한 자동 측정 기능 (auto-measurement feature) 을 사용하여 가능한 결함 또는 패턴 변경 (change of pattern) 을 파악하여 사용자에게 결함의 잠재적 원인에 대한 피드백을 제공할 수도 있습니다. APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite에는 고속 이미징 모듈도 장착되어 있으며 2.5 Gigapixel/second 이미징 처리량을 제공합니다. 이 이미징 모듈을 사용하여 사용자는 최소 150nm 의 시야각 (field-of-view) 으로 최대 10 개의 샘플에서 신속하게 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 모듈은 1 초 이내에 전체 웨이퍼를 이미징할 수 있습니다. 또한 마스크 정렬 (mask alignment), 트랜지스터 이미징 (transistor imaging) 등 다양한 분석 도구를 사용하여 사용자가 결함을 정확하게 파악하고 분류할 수 있습니다. 강력한 분석 기능을 갖춘 SemVision G3 Lite 는 중요한 형태, 기능 크기, 회색 레벨 정보 등 다양한 유용한 데이터를 제공합니다 (영문). 전반적으로 AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite (AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite) 는 다양한 기능과 기능을 갖춘 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 자산으로, 고급 마이크로일렉트로닉 칩 및 기타 복잡한 장치를 검사하는 데 이상적인 도구입니다. 고급 이미징 기능, 강력한 분석 기능, 빠른 이미지 획득 속도를 자랑하는 AMAT SemVision G3 Lite (AMAT SemVision G3 Lite) 는 규모와 복잡성의 장치를 검사하는 데 강력하고 안정적인 도구입니다.