판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9287513

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB는 웨이퍼 수준에서 설계 오류를 해결하기 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고해상도 이미징 (Imaging) 및 검사 기능을 모두 갖춘 이 시스템은 350nm 피치에서 2nm 정도의 결함을 감지할 수 있습니다. 이 장치는 엔지니어링 프로세스 제어 및 프로덕션 데이터 분석에 모두 적합합니다. 사양 측면에서 AMAT SemVision G3 FIB는 Ultima FIB/SEM 열과 Resolution Targeting Automation 소프트웨어, Optical Proximal Probing 및 TEM/SEM 기능과 같은 고급 이미징 기술을 사용하여 최고의 정확성, 유연성 및 처리량을 제공합니다. 이 제품은 결함 검토, 영역 파열, 이미징 충실도 (fidelity) 모듈 등 최신 이미징 및 분석 툴이 탑재되어 있습니다. 이 시스템에는 고유한 듀얼 스테이지 ASIS (Automation Scanning and Inspection Software) 보드가 장착되어 있어 여러 스캐닝 환경을 통합할 수 있습니다. 이 기능은 운영 속도 및 항복 최적화 측면에서 최적의 성능을 보장합니다. 또한 820 Integrex FE-SEM 전동 중심 장치는 위치 정확도, 처리량 향상 및 다용성을 향상시킵니다. APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB는 다른 타사 검사 제품을 쉽게 통합 할 수있는 다용도 플랫폼입니다. 결과적으로 [자동 정렬], [프로그래밍 가능 스태이징], [결함 사전 처리], [빠른 단일 이미지 정렬] 과 같은 여러 기능을 사용할 수 있습니다. 샘플 크기는 도구가 4 인치 웨이퍼까지 처리 할 수 있습니다. SemVision G3 FIB는 안전한 작동을 위해 설계되었으며, 인터록, 자동 정지, 오염 모니터링, 자동 경보 등의 현장 기반 안전 옵션을 제공하여 wafer 처리를 손쉽게 유지 관리하고 관리할 수 있습니다. 인체 공학적 디자인은 편리하고 사용하기 쉽습니다. 자산에는 터치 스크린 패널과 다양한 대화형 (interactive) 기능을 탐색하는 데 도움이 되는 사용자 친화적 인 GUI가 제공됩니다. 전반적으로 AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB는 웨이퍼 검사 작업을 위한 고급적이고 안정적인 솔루션입니다. 더욱 향상된 정확성, 생산성, 유연성을 제공하며, 자동화된 프로세스 제어 및 데이터 분석에 적합합니다.