판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269339

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 Mask & Wafer Inspection Equipment는 집적 회로 마스크 및 반도체 웨이퍼를 고급 이미징 및 검사하기위한 라인 시스템의 상단입니다. 이 다용도 장치는 최고 수준의 정확도 및 성능 표준을 충족하도록 설계되었으며, 높은 효율성과 정확도로 마스크 (Mask), 웨이퍼 (Wafer) 및 JPEG 이미지를 검사할 수 있습니다. AMAT SemVision G2 머신이 제공하는 고급 이미징 기능은 운영자에게 다양한 검사 매개변수를 드래그 앤 드롭 (drag-and-drop) 하는 기능을 제공하여 장치에 탁월한 사용 편이성을 더합니다. 공구의 주요 피쳐는 마스크 (mask) 나 웨이퍼 (wafer) 또는 실제 칩 (chip) 서피스의 설계 영역 내에서 결함을 감지하는 기능입니다. APPLIED MATERIALS SemVision G2에는 인치당 최대 1024 픽셀의 고급 픽셀 해상도와 하위 픽셀 크기와 via, 입자와 같은 심각한 결함을 감지 할 수있는 고급 결함 인식 알고리즘이 있습니다. 또한, 에셋에는 연산자에게 3D 뷰, 영화 분할 등의 추가 세부 사항 및 기능을 제공하는 현미경 이미지 라이브러리가 포함되어 있습니다. 또한 SemVision G2 는 자동화된 phase-shift 스캐닝 (phase-shift) 기술을 탑재하여 운영자가 마스크의 등록 및 단계 정확도를 빠르고 정확하게 검사할 수 있습니다. 사용자 정의 가능한 시야 (field of view), 유연한 조명 (flexible lumination) 및 혁신적인 결함 분류 기능과 함께, 사용자는 심각한 결함 영역을 신속하게 감지하고 분리할 수 있습니다. 이 모델에는 빠르고 효율적인 결함 검토, 고급 결함 추적 (Advanced Defect Tracking), 정확한 보고, 사용자 지정 가능한 이미지 보기를 위해 설계된 소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2의 직관적인 사용자 인터페이스와 함께 제공되는 이 소프트웨어는 숙련되고 경험이 부족한 운영자에 쉽게 사용할 수 있습니다. AMAT SemVision G2 Mask & Wafer Inspection Equipment는 시장에서 사용 가능한 최고의 이미징, 검사 및 분석 표준을 제공하도록 설계되었습니다. 고해상도, 자동 기능 인식 (automated feature recognition) 기능, 사용자 친화적 인터페이스를 갖춘 이 시스템은 반도체 제조업체와 집적 회로 설계자에게 이상적인 선택입니다.