판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269326

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 (AMAT/APPLIED MATERIALS SemVISION G2) 는 반도체 제조와 관련된 다양한 응용 분야에 적합한 고정밀 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 특수 시스템을 통해 사용자는 장치/시스템 레벨에서 마스크/웨이퍼 (wafer) 의 패턴화된 레이어를 시각적으로 검사할 수 있습니다. 2 미크론 (미크론) 의 해상도까지 결함을 감지할 수 있는 탁월한 정확성과 반복성을 제공하도록 설계되었습니다. 이 장치는 brightfield combined episcopic/diascopic reflective microscope를 사용하여 비스듬과 직접 조명 모두에서 샘플을 검사 할 수 있습니다. 이 기계는 또한 최고 1280 x 1024 해상도의 고해상도 이미지를 캡처할 수있는 고급 20x/120x 옵티컬 도구를 통해 최적화된 시야를 위한 빠른 LED 광원을 제공합니다. 또한 AMAT SemVision G2에는 1600 만 픽셀 CMOS 카메라와 직접 이미지 캡처 및 저장을위한 이미지 캡처 카드가 있습니다. APPLIED MATERIALS SemVision G2 에는 자동화된 검사 및 분석 툴이 포함되어 있으며, 사용자가 신속하게 결함을 파악하고, 정확한 위치를 파악하고, 상세한 분석을 수행할 수 있습니다. 에셋은 또한 통합 라인 스캔을 지원하여 정확한 에지 (edge) 및 라인 결함 분석을 가능하게 합니다. 이 모델은 기본 제공되는 자동 초점 알고리즘으로 실시간 자동 초점 (auto-focus) 을 통해 사용자 조정 없이 최상의 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 SemVision G2는 에지 위치 (Edge Location) 및 피크 마운틴 분석 (Peak Mountain Analysis) 을 포함한 다양한 측정을 제공하여 다양한 생산 프로세스에 이상적입니다. 또한, 이 장비는 다양한 입출력 (I/O) 기능과 여러 네트워킹 옵션을 제공하여 사용자가 장치를 원격으로 제어하거나 기존 시스템과 통합할 수 있도록 합니다. 전반적으로 AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2는 마스크 및 웨이퍼 검사 어플리케이션을 위해 안정적이고 사용하기 쉬운 시스템입니다. 이 장치는 뛰어난 이미지/데이터 품질을 제공하며, 다양한 자동 툴/측정 기능을 제공합니다. 즉, 빠르고, 정확하며, 반복 가능한 검사를 통해 마스크와 웨이퍼의 결함 및 기능을 신속하게 파악하고 분석할 수 있습니다.