판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9227745

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2는 매우 정확하고 빠른 결함 감지 및 특성을 제공하도록 설계된 강력한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 최신 검사기술을 탑재해 생산수준의 반도체 (반도체) 구성요소 검사를 위한 높은 정밀도로 빠르고 효율적인 결함 감지 (defect detection) 및 위치 (location) 를 가능하게 했다. AMAT SemVision G2는 최첨단 이미지 획득 및 이미징 처리 기술과 통합 된 수차 수정 4.5kV 스캔 전자 현미경 (SEM) 을 갖추고 있습니다. 복잡한 결함에 대한 탁월한 이미징 성능 및 분석을 제공하도록 설계되었습니다. 이 장치는 뛰어난 명암비 해상도를 위해 4 채널 신호 감지, 고감도 기울기 검출기, 진폭 대비 기술과 같은 고급 검출기를 사용하여 뛰어난 이미징 충실도, 반복 가능성, 신뢰성을 제공합니다. APPLIED MATERIALS SemVision G2 (APPLIED MATERIALS SemVISION G2) 는 또한 높은 처리량 웨이퍼 검토 모드를 제공하여 사용자가 운영 볼륨의 웨이퍼를 효율적으로 스크리닝하고 분류할 수 있도록 합니다. 이미징 기능 외에도 SemVision G2에는 샘플, 이미지 회전, 기울기 감지 (tilt detection) 를 신속하게 자동 정렬할 수 있는 3D 자동 정렬 머신이 장착되어 있습니다. 또한 사용자는 하향식 및 측면 방향 모두에서 3D x-ray 분석을 수행 할 수 있습니다. 이미지 분석 어플리케이션이 통합되어 있으므로, 결함의 크기가 정확하게 조정되고 쉽게 분류될 수 있습니다. 게다가, 이 도구는 다중 사용자 액세스 (multi-user access) 를 통해 설계되었으므로 여러 사용자가 동시에 자산을 사용할 수 있으므로 생산성 향상과 주기 시간 단축이 가능합니다. AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 는 합리적인 가격으로 고급 이미징 및 분석 기능을 조합하여, 반도체 구성요소 검사를 위한 이상적인 툴입니다. 통합된 하드웨어/소프트웨어 기술은 탁월한 이미지 해상도를 제공하며, 빠르고 정확한 결함 분석을 위한 명암비를 제공합니다. 이 모델은 3D 자동 정렬, 다중 사용자 액세스, 유연한 이미지 처리 기능을 통해 반도체 업계의 까다로운 검사 요건을 충족할 수 있도록 설계되었습니다.