판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9215407

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2는 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 최신 검사 기술 발전으로 설계되었습니다. 고해상도에서 마이크로칩 (microchip) 의 3 차원 이미지를 사용하며 잠재적 결함 및 비효율성 영역을 신속하게 식별 할 수 있습니다. 검사 과정은 전자 제어 플랫폼에서 빠르게 회전하는 웨이퍼로 시작됩니다. 적외선 카메라는 6,000 프레임 이상의 회전 웨이퍼를 사용합니다. 이 데이터는 시스템의 강력한 AI 알고리즘 (AI algorithm) 에 의해 분석 및 해석되며, 구성 요소 및 잠재적 약점 영역을 매우 정확하게 렌더링할 수 있습니다. 그런 다음, AI 소프트웨어는 구조에서 오류 및 불일치를 쉽게 찾을 수 있으며, 각 오류는 필요에 따라 검사하고 수리 할 수 있습니다. 고객의 요구 사항에 따라, 장치의 매개변수를 조정하여 다른 해상도 (Resolution) 와 깊이 (Depth) 로 검사할 수 있습니다. G2 는 다양한 웨이퍼 (wafer) 크기도 지원하므로 모든 업종이나 기술에 적합합니다. G2 의 최신 설계는 높은 수준의 프로세스 효율성을 보장하며, 전체 자동화 (full automation) 를 포함하여, 사용자가 수행되는 모든 검사를 자동화할 수 있는 유연성을 제공합니다. 통합형 소프트웨어는 여러 대의 웨이퍼 (wafer) 를 효율적으로 처리할 수 있으며, 각 웨이퍼에 대해 여러 가지 검사를 수행할 수 있습니다. 또한 이미지 네비게이션 머신 (image navigation machine) 을 사용하면 웨이퍼에서 잠재적 결함의 이미지를 신속하게 찾아서 검토할 수 있으므로 전체 프로세스가 개선됩니다. AMAT SemVision G2는 마스킹, 정렬, 결함 기능을 활용하여 결함을 최소화하고 생산 팀의 스트레스를 크게 줄일 수 있습니다. 최신 AI 기술과 자동 기능의 통합 덕분에 APPLIED MATERIALS SemVision G2 (APPLIED MATERIALS SemVision G2) 는 마스크와 웨이퍼를 효율적으로 검사하고 결함과 비효율성을 신속하게 파악하는 완벽한 도구입니다. 이 제품은 높은 수준의 정확성, 유연성 (Flexibility) 을 제공하며, 여러 가지 검사를 수행하여 최종 제품이 고객의 기대와 사양에 부합하는지 확인합니다. 이 툴은 지속적으로 발전하는 반도체 (semiconductor) 업계에서 귀중한 자산으로 입증되었으며, 시장에서 가장 신뢰할 수있는 검사 솔루션 중 하나입니다.