판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9190574

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 고정밀 리소그래피 검사 분야에서 업계 최고의 제품으로, 뛰어난 화질, 정확도 및 속도를 제공합니다. 이 시스템은 6nm 이하의 고급 리소그래피 (lithography) 노드에 최적화된 통합 이미지 처리 및 검사 솔루션을 제공합니다. 최첨단 이미지 처리 장치 (Advanced Imaging Unit) 를 통해, 이러한 유형의 검사를 통해 고객은 제품 개발 시 최고 수준의 품질을 보장할 수 있습니다. 각 기능 크기 및 노드에 대해 전용 이미징 교정을 사용하여이 기계는 시각적 다이 검사 (Visual Die Inspection) 에서 6nm (Low) 까지 가장 높은 정확도를 제공합니다. 밝고, 고해상도 12형 (transmited light imager) 와 자동 초점 (automatic focus) 을 갖춘 이 도구는 전체 이미지 필드에 걸쳐 선명하고 선명한 이미지를 제공합니다. AMAT SemVision G2는 고정밀 검사 외에도 특허를받은 자동 결함 감지 자산 (Automatic Defect Detection Asset) 으로 마스크 및 웨이퍼에 대한 불량 검토를 제공합니다. 이 결함 감지 모델은 라인 엔드 브리징, 피트 브리징, 라인 브레이크, OPD (optical proximity defect) 감지, 입자 및 오염과 같은 결함을 감지하는 데 사용됩니다. 이 장비는 또한 CD 측정 프로브, FOUP 등 다양한 장치에서 데이터를 수집하는 통합 스캐닝 시스템을 제공합니다. 이 단위는 수차 측정뿐만 아니라 CD 슬릿 (slit) 또는 이진 슬릿 (binary slit) 측정을 수행하도록 사용자 정의 할 수도 있습니다. 또한, 이 기계는 빠르고, 쉽고, 정확한 검사와 측정을 통해 개발 과정에서 귀중한 시간을 절약할 수 있게 해 줍니다. 유연성과 생산성 측면에서 APPLIED MATERIALS SemVision G2 툴은 고객의 요구 사항을 충족하는 광범위한 혁신적인 기능을 제공합니다. 이 자산은 즉석에서 웨이퍼 (wafer) 치수를 재구성하는 기능을 제공하며 새로운 로드 포트 아키텍처를 포함합니다. 또한 사용자 친화적인 GUI 인터페이스, 자동 도구 선택, 복잡한 작업을 위한 간편한 탐색 기능을 갖춘 직관적이고 사용이 간편한 인터페이스 등을 제공합니다. 전체적으로, SemVision G2 모델은 마스크 및 웨이퍼 검사를위한 최고의 솔루션으로, 고정밀 정확도에 대한 고급 이미징 및 교정을 제공합니다. 통합 이미지 처리/스캐닝 (Integrated Imaging and Scanning) 기능은 시간 및 비용 투자가 적은 정확한 결과를 제공하므로 고객이 보다 효율적이고 생산성을 높일 수 있습니다. 최고 품질의 이미지와 가장 빠른 결함 감지 (Fast Defect Detection) 를 통해, 가장 고급 리토그래피 노드에 가장 적합한 리소그래피 성능을 제공합니다.