판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9298565
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ID: 9298565
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2004
Defect review system, 12"
Hard Disk Drive (HDD) Not include
2004 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX는 결함 감지, 분류 및 분석을 단순화하도록 설계된 강력한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 매우 정확하고 정밀하게 결함을 신속하게 파악할 수 있는 종합적인 웨이퍼 (wafer) 검사 도구를 제공합니다. 이 시스템의 고급 이미지 처리 (image-processing) 알고리즘은 빠르고 안정적인 결함 특성화 및 분류를 가능하게 하며, 향상된 프로세스 모니터링 및 품질 제어를 위한 귀중한 운영 데이터를 제공합니다. AMAT SemVision CX 장치는 자동 스캐닝 및 검사, 동적 초점면 초점, 실시간 결함 시각화 기능을 제공합니다. 또한 scan 기반 결함 지표를 수집하여 사용자 개입 없이 '루트' 원인을 표시할 수 있습니다. 결함 막대 그래프 (Defect histogram) 는 시간이 지남에 따라 운영 추세를 쉽게 모니터링하고 데이터 분석을 실현하는 한편, 자동 결함 분류를 통해 처리량 및 품질 관리 (Quality Control) 기능을 제공합니다. 이 도구의 고해상도 이미징 기능은 스크래치 (scratch) 와 잔류 (residue), 초소형 패턴에서도 가장 훌륭한 이상을 감지하도록 설계되었습니다. 최대 30nm의 자산 이미지 해상도 (Asset Image Resolution) 는 또한 매우 작은 결함을 감지 할 수 있습니다. 따라서 3D 스택 칩 및 2xnm 이하의 노드를 포함하여 가장 정교한 설계를 검사하기에 적합합니다. 또한 APPLIED MATERIALS SEM VISION CX (APPLIED MATERIALS SEM VISION CX) 장비는 생산 프로세스의 여러 단계에서 빠르고 정확한 검사를 제공하여, 생산량이 손상되기 전에 신속하게 결함을 해결할 수 있습니다. 우수한 렌즈 제어 및 모션 감지 기능은 정적 이미징 (Static Imaging) 과 높은 처리량 생산에서 뛰어난 성능을 제공합니다. 시스템의 인체 공학적 터치스크린과 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 운영자가 다양한 검사 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. 이 장치의 기능은 추가 결함 분류 및 특정 검토 알고리즘으로 확장 될 수 있습니다. 이러한 알고리즘은 자동화된 결함 특성화 및 분류, 고급 에지 명암 향상, 허위 결함 감소로 구성됩니다. 이를 통해 결함의 원인과 문제의 신속한 해결을 더욱 쉽게 이해할 수 있습니다. SemVision CX 머신은 개발 환경과 운영 환경 모두에 이상적인 제품으로, 보다 빠른 수출을 달성할 수 있습니다. 이 툴의 고급적이고 편리한 유틸리티는 신속한 프로세스 최적화 (rapid process optimization) 를 지원하므로 운영 주기 (production cycle) 와 비용 절감 효과가 향상됩니다. 이 자산은 또한 신뢰성이 높고 견고하며, 무제한 확장성 및 전례없는 오류 감지 기능을 제공합니다.
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