판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 XS #293620183

AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 XS
ID: 293620183
Patterned wafer inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736 XS는 가장 까다로운 반도체 어플리케이션을 위해 설계된 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 0.36 미크론 해상도 광학 장치 (optics unit) 와 반도체 제조의 다양성을 충족시키는 고속 웨이퍼 검사 터미널을 갖추고 있습니다. AMAT WF 736 XS는 고급 축 제어 (Advanced Axis Control) 기술을 사용하여 해상도 수준을 유지하면서 최대 21개의 객체를 동시에 스캔할 수 있습니다. 또한, 검사 기계의 최대 이미지 크기는 응용 프로그램에 따라 8x8 mm 또는 4x4 mm입니다. 광학 도구는 실시간 미리보기 디스플레이 (Live Preview Display) 옵션을 사용하여 고객의 요청에 따라 추가 사용자 정의할 수 있습니다. ORBOT WF 736XS는 또한 사용자가 특정 응용 프로그램에 적응할 수있는 Die 2 Die, Die 2 Wafer, Wafer 2 Wafer 및 Camera 2 Wafer 스캔 옵션이 포함 된 이중 축 단계를 제공합니다. 또한 OptiFlex 인텔리전트 스캐닝 소프트웨어 (Intelligent Scanning Software) 는 기존 기술과 비교할 때 모든 관련 결함을 매우 정확하게 분석하여 검사 결과의 신뢰성을 향상시킵니다. AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736XS는 여러 입/출력 국가를 수용할 수 있는 기능이 내장되어 있으며, 프로세스 인터페이스는 귀중한 고객 툴, 소프트웨어, 프로세스 간에 원활하게 작동하도록 설계되었습니다. 또한 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 고객의 요구에 맞게 사용자 지정 가능한 작업을 위한 검사 (inspection) 매개변수에 빠르고 쉽게 액세스할 수 있습니다. 또한 APPLIED MATERIALS WF 736 XS에는 피드백 (feedback) 제어를 사용하여 해상도 및 스캔 속도를 제어하는 고속, 자체 학습 프로세스 제어 자산이 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 신속하게 매개변수를 최적화하고 감지 기능을 향상시킬 수 있습니다. 또한 고속 웨이퍼 자동 로더 (옵션) 와 확장 다이내믹 레인지 (extended dynamic range) 를 통해 모델의 성능을 더욱 향상시킬 수 있습니다. AMAT WF 736XS는 고품질 옵틱, 고급 이미지 처리 및 실시간 성능을 결합하여 업계 최고의 기능을 제공합니다. 고속 (Fast Speed), 고해상도 (High Resolution) 를 통해 안정적인 결함 감지 기능을 제공하며 기존 고객의 품질 관리 시스템에 손쉽게 통합할 수 있어 품질 보증 (Quality Assurance) 및 제품 검증을 위한 완벽한 선택이 가능합니다.
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