판매용 중고 ALLTEQ LFI 3000 #9028592

ALLTEQ LFI 3000은 고해상도, 실시간 결함 검사 및 분석을 제공하기 위해 설계된 차세대 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 성능 극대화에 최적화되어, 사용자가 처리량을 극대화하고, 신속하게 결함을 감지할 수 있도록 합니다. 최고 해상도와 정확도를 보장하기 위해 장치에는 2 차원 이미징 CMOS 센서, 고출력 4 레이저 소스 개체 감지 기계, 최적화 된 광학 공구가 장착되어 있습니다. 따라서 사용자가 쉽고 정확하게 웨이퍼 및 마스크 기능을 분석할 수 있습니다. LFI 3000은 최대 1.5cm ² 의 넓은 면적 스캔을 가지며 최대 128x512 해상도의 해상도에서 최대 6cm ² 의 면적을 다룰 수 있습니다. 이 자산은 또한 고밀도 패턴 측정, 견고한 패턴 방향 계산, 고밀도 결함 분석을위한 고해상도 스위칭 속도, 입자, 긁힘 등 다양한 결함 감지 (defect detection) 기능을 갖추고 있습니다. 이 모델은 손쉽게 사용자 정의, 통합할 수 있으며, 설치 및 설치 작업을 간편하게 수행할 수 있습니다. 간편한 탐색 및 사용자 환경을 위한 직관적인 소프트웨어도 포함되어 있습니다. 직관적인 GUI를 사용하면 결함이 없는 결과를 신속하게 검사하고 분석할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 데이터 저장, 고급 분석 및 데이터 내보내기 기능, 자동 분석 후 (post-and-analyze) 결함 검사 시스템, 결함 패턴 추적 장치 등 다양한 통합 기능을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 결함을 분석하고, 문제 영역을 신속하게 분리하고, 수리/결함 감소를 위한 안정적인 솔루션을 제공할 수 있습니다. ALLTEQ LFI 3000은 wafer 및 mask 기능의 검사 및 디버깅, 결함 감지 최적화, 정확한 결함 식별 및 솔루션 효율성을 높여주는 강력한 도구입니다. 이 시스템은 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 기능을 찾는 사용자에게 적합한 솔루션입니다.