판매용 중고 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9202658

ACCRETECH/TSK Win-Win 50 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 반도체 제작 프로세스에 사용되는 필수 도구입니다. 이 시스템은 빠르고, 정확하며, 신뢰할 수있는 마스크와 웨이퍼 검사를 제공하도록 설계되었습니다. 또한 모듈식 (modular) 설계를 통해 쉽게 사용자 정의할 수 있으며, 다양한 어플리케이션에 적합합니다. TSK Win-Win 50은 다이 마스크와 포토 마스크 패턴을 검사하는 데 사용할 수 있습니다. TSK 양면 (double sided) 광 장치를 사용하여 웨이퍼 상단 및 하단에서 측정하여 단면 (single sided) 광 시스템보다 더 높은 정확도를 제공합니다. 그것의 높은 배율과 속도는 또한 현미경 및 지형 검사에 적합합니다. 이 기계는 고속 이미지 처리, 패턴 인식 기술 (pattern recognition technology), 특수 개발 검색 엔진 (search engine) 이 통합된 고급 이미지 획득 및 분석 도구로 구동됩니다. 고급 옵틱은 또한 높은 처리량과 정확성을 보장합니다. 이미징 자산은 또한 완전히 자동화되어 효율적이고 반복 가능한 검사를 가능하게 합니다. ACCRETECH WIN WIN 50은 기본 제공 분류 도구로 결함 분류도 가능합니다. 실제 결함과 허위 양성 (false positive) 을 구별하여 프로세스 최적화를위한 효과적인 도구가 될 수 있습니다. 또한, 직관적인 소프트웨어 패키지를 통해 간단한 교육 및 모델 설정을 수행할 수 있습니다. 이 장비는 또한 많은 표준 데이터 형식을 지원하므로 기존 워크플로우에 쉽게 통합 (integration) 할 수 있습니다. 전반적으로 ACCRETECH/TSK WIN WIN 50 시스템은 모든 반도체 생산 라인에 이상적인 선택입니다. 빠른 속도, 정확성, 광범위한 어플리케이션을 통해 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사를 위한 경제적이고 안정적인 선택이 가능합니다. 또한 모듈식 (modular) 설계를 통해 간편한 사용자 정의 및 통합이 가능하므로 모든 운영 환경에서 다양하고 유연한 선택이 가능합니다.