판매용 중고 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9373221

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 반도체 장치 제작에 사용되는 포토 마스크 및 웨이퍼를 검사하기위한 자동 솔루션입니다. 이 시스템은 높은 정밀도, 낮은 소음으로 웨이퍼 (wafer) 또는 포토 마스크 (photomask) 의 표면에서 결함을 감지할 수 있습니다. 이 장치는 리소그래피 (lithography), 본드 검사 (bond inspection), 에지 검사 (edge inspection) 등 다양한 애플리케이션에 대해 중요한 프로세스 제어 지점을 제공하도록 설계되었습니다. 고도배율 스캐너 (Advanced High-Magnification Scanner) 가 장착되어 있어 검사중인 물체의 표면에서 미세한 결함과 이상을 감지할 수 있습니다. 또한 TSK Win-Win 50-1600 은 wafer 또는 photomask 를 모델 또는 참조 샘플과 비교하는 실시간, 직접 이미지 오버레이 모듈 (direct-image overlay module) 과 기존 이미지 오버레이 시스템보다 훨씬 더 정확한 참조 샘플로 구성할 수 있습니다. 이를 통해 프로세스 균일성, 정확성 및 품질 일관성을 정확하게 결정할 수 있습니다. 이 기계 에는 다재다능 하고 강력 한 물체 인식 도구 가 장착 되어 있는데, 이 도구 는 "웨이퍼 '나" 포토마스크' 에 있는 "다이 '," 패드' 및 기타 구조 와 같은 물체 들 을 신속 히 식별 할 수 있다. 또한, 에셋은 입자, 반점, 선, 공백 및 기타 표면 오염을 감지하고 감지 된 각 결함에 대한 자세한 정보를 제공 할 수 있습니다. ACCRETECH Win-Win 50-1600은 직관적인 인터페이스와 작동하기 쉬운 기능을 갖춘 안정성이 뛰어난 모델입니다. 최소 수준의 교육을 통해 설치/운영이 가능하며, Windows, Linux 등 대부분의 주요 운영 장비 플랫폼 형식을 지원할 수 있습니다. 이 시스템에는 최적의 작동을 보장하는 다양한 안전 기능도 있습니다. Win-Win 50-1600 은 반도체 디바이스를 제작할 때 고품질의 결과를 얻을 수 있는 툴입니다. 고정밀도, 저소음 (low noise), 다용도 (versitility) 를 갖춘 포토마스크 및 웨이퍼의 자동 검사 및 결함 감지를 위한 이상적인 선택입니다.