판매용 중고 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9353792

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600은 포토 마스크, 웨이퍼 및 기타 기판에서 에칭 패턴을 자동으로 검사하도록 설계된 "마스크 및 웨이퍼 검사" 장비입니다. 다양한 고급 옵티컬 기술로 구성되어 있어, 고해상도, 결함이 없는 이미징, 평가를 가능하게 합니다. TSK Win-Win 50-1600은 4 채널 CCD 카메라를 사용하여 광범위한 해상도 수준에서 이미지를 캡처합니다. 초당 최대 2000 프레임을 얻을 수 있으며, 렌즈 시스템은 0.3 미크론 해상도와 6 배의 조정 가능한 줌을 제공합니다. 또한 적외선 (IR) 레이저 및 고성능 옵틱은 동급 최고의 이미징 기능을 제공합니다. 다른 주목할만한 기능은 다음과 같습니다. LASWAF (Laser Scanning Wafer Assist Tool); 선택적 [문자 마스크 인식] 단위로, 마스크의 A면 또는 B면에서 결함을 감지하고 식별할 수 있습니다. 기본 제공 정렬 장치 및 데이터 처리 도구. 이 기계는 자동화되고, 정확하며, 반복 가능한 결함 검사에 적합하며, 빠른 결과 데이터 출력과 패턴 데이터의 안정적인 분류를 제공합니다. 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 설정 (setup) 프로세스를 손쉽게 수행할 수 있으며, 복잡한 패턴에서도 하이엔드 (High-End) 스캐닝 및 탐지를 수행할 수 있습니다. ACCRETECH WIN 50-1600 은 WIN-Verity, 업계 최고의 이미지 처리 및 소프트웨어 플랫폼, WIN-Verity 등 다양한 소프트웨어 패키지를 장착할 수 있으므로 사용자 지정 기능이 뛰어납니다. VertexP2 소프트웨어, 실시간 시각화 및 분석 패키지; 및 기타 고급 도구. 또한 내장 DIP, CMAPI 및 ECD 계산 기능 덕분에 결함 분석 및 도량형 응용 프로그램에 모두 사용할 수 있습니다. 전반적으로, Win-Win 50-1600 (Win-Win 50-1600) 은 반도체 산업의 변화하는 요구를 충족시키기 위해 설계된 인상적인 마스크 및 웨이퍼 검사 자산입니다. 고급 옵틱 (Optic), IR 레이저 (IR Laser), 다양한 소프트웨어 패키지와 결합된 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 은 다양한 패턴에서 결함을 감지하고 식별하여 품질 관리 작업에 유용한 툴입니다.