판매용 중고 ACCRETECH / TSK Rondcom 40C #9189680

ACCRETECH/TSK Rondcom 40C는 자동 비접촉 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 모든 유형의 웨이퍼 (wafer) 유형을 검사하고 재료 표면의 매우 정확한 3 차원 이미지를 생성하도록 설계되었습니다. TSK Rondcom 40C는 고급 광학 검사 (Optical Inspection) 와 하드웨어 (Hardware) 의 조합을 활용하여 결함, 외래 입자 및 다른 시스템에서 픽업되지 않는 기타 표면 이상을 감지 할 수 있습니다. ACCRETECH Rondcom 40C에는 약 200 x 250 mm의 가시 영역이있는 진공 챔버가 있습니다. 이 챔버 내부에는 고출력 레이저 소스 (laser source) 가 있는데, 이 레이저 소스는 웨이퍼 표면을 비추고 조정 가능한 시야에서 CCD 카메라에 중점을 둡니다. 그런 다음, 카메라의 이미지는 강력한 고해상도 이미징 시스템 (high-resolution imaging system) 에 의해 처리되어 매우 작은 결함을 감지할 수 있으며, 크기가 5 미크론 아래로 입자가 될 수 있습니다. 이 단위에는 재료 및 응용 프로그램에 맞게 조정할 수 있는 다양한 매개변수 (parameter) 가 있습니다. 여기에는 백라이트 (backlight) 또는 프론트 라이트 이미징 (frontlight imaging) 의 선택과 4 개의 사전 설정된 조명각 중 하나를 선택할 수 있습니다. 이를 통해 Rondcom 40C는 표면을 검사하기가 가장 어려운 결함과 입자를 감지 할 수 있습니다. 또한 이미징 머신 (Image Machine) 을 사용하면 전체 해상도에서 최대 200배율 (Zoom Level) 까지 다양한 확대/축소 레벨을 선택할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK Rondcom 40C는 또한 고유 한 알고리즘을 사용하여 감지되는 모든 결함을 빠르고 정확하게 분류하는 자동 결함 분류 도구를 제공합니다. 이 자산은 스크래치, 구덩이 (pits), 외래 입자 (foreign particle) 와 같은 요소를 구분할 수 있으며 각 요소에 대한 자세한 설명을 제공할 수 있습니다. 또한, 소프트웨어는 캡처 (capture) 하고 여러 형식으로 익스포트할 수 있는 모든 이미지의 영구 기록을 유지할 수 있습니다 (영문). TSK Rondcom 40C (TSK Rondcom 40C) 는 안정적이고 효율적인 모델로, 웨이퍼 표면의 매우 상세한 이미지를 제공할 수 있으며, 사용자가 탁월한 정확도로 결함을 감지하고 분류할 수 있습니다. 이 시스템은 사용자 친화적 인 컨트롤 (control) 과 정교한 이미징 장비를 통해 상세한 웨이퍼 (wafer) 검사를 수행하는 데 적합합니다.