판매용 중고 JEOL EM-DSC10E #293670694

JEOL EM-DSC10E는 샘플 준비 없이도 다양한 표본과 샘플을 정확하고 정확하게 관찰할 수 있도록 ESEM (Environmental Scanning Electron Microscope) 입니다. EM-DSC10E (Advanced Design of EM-DSC10E) 는 재료 과학, 생물학, 화학 및 기타 분야 연구원들이 이용할 수있는 가장 다양하고 사용자 친화적 인 도구 중 하나입니다. JEOL EM-DSC10E 에는 견고한 ESEM 장비가 장착되어 있어, 샘플 챔버에서 환경을 완벽하게 제어할 수 있어, 이미징 성능과 안정성이 향상되었습니다. EM-DSC10E는 지능형 진공 제어 시스템 (Intelligent Vacuum Control System) 을 통해 고진공에서 대기 압력 가까이에 이르는 다양한 환경 조건에서 표본을 영상 할 수 있습니다. 또한, 단위의 가변 압력 (variable pressure) 은 영상에 다른 수준의 진공이 필요한 표본의 관찰을 가능하게한다. JEOL EM-DSC10E 는 향상된 이미지 처리 기능을 제공하므로, 사용자가 표본의 세밀한 세부 사항을 관찰하고 분석할 수 있습니다. 전자 광학은 5 축 초점 스테이지가있는 고화질 전자 열 (High-Definition Electron Column) 을 특징으로하며, 자세한 근접 이미지를 얻을 수있는 기능을 제공합니다. 높이 조절 가능한 기둥과 초고화질 플랫폼을 갖춘 EM-DSC10E 는 고해상도 이미지와 저KV (low-KV) 작업을 모두 수행할 수 있으며, 이를 통해 사용자가 품질 마이크로그래프를 제공할 수 있습니다. JEOL EM-DSC10E에는 컴퓨터 제어 고해상도 디스플레이 및 자동 이미지 획득 기계도 장착되어 있습니다. 이 도구를 사용하면 이미지를 빠르고 효율적으로 캡처하고 저장할 수 있으며, 편리함과 정확성을 향상시킬 수 있습니다. 또한, EM-DSC10E 는 다양한 샘플 스터브 (stub) 와 마운트를 갖추고 있어 표본을 쉽게 찾아 관찰할 수 있습니다. JEOL EM-DSC10E는 모든 실험실 환경에 매우 다양한 도구입니다. 그것의 특징은 정확한 관찰과 분석이 필요한 모든 분야에 이상적인 선택이된다. EM-DSC10E는 강력한 전자 광학 장치 (Electron Optics) 와 지능형 디자인 (Intelligent Design) 을 통해 다른 시스템에서 가능하지 않은 수준의 표본을 관찰하고 분석 할 수있는 능력을 연구원들에게 제공합니다. 다양성과 안정성을 통해 JEOL EM-DSC10E는 다양한 주제에 대한 통찰력을 얻기 위해 연구원들에게 귀중한 도구를 제공합니다.