판매용 중고 FILMETRICS F20 #293621612

FILMETRICS F20 (FILMETRICS F20) 은 다양한 재료 및 방출 각도에서 박막 두께 및 광학 상수에 대한 높은 정확도, 비파괴적 측정을 제공하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 일련의 고급 알고리즘 (advanced algorithm) 을 사용하여 정확하고 반복 가능한 측정 (초) 을 가능하게 하며, 디바이스 레이어 및 매개변수를 빠르고 쉽게 특성화할 수 있으며, 이는 디바이스 성능에 직접적인 영향을 미칩니다. FILMETRICS F 20 장치는 측정 헤드와 제어 콘솔의 두 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다. 측정 헤드 (measurement head) 에는 넓은 광원이 포함되어 있으며, 이는 다양한 방출 각도에서 웨이퍼 샘플의 광학적 특성을 측정하는 데 사용됩니다. 제어 콘솔 (Control Console) 은 샘플 위치와 선택, 그리고 데이터 출력 옵션을 제어할 수 있는 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공합니다. F20 기계는 다양한 액세서리를 사용하여 렌즈, 프리즘, 필터 및 기타 광학 구성 요소를 포함한 샘플 측정을 더욱 용이하게합니다. F 20 도구는 광학 간섭을 사용하여 샘플의 두께 및 광학 상수, 표면 거칠기를 정확하게 측정하는 특허받은 SED (Spectral Ellipsometry Detection) 자산을 포함합니다. 이로써, 샘플 삭제 및 샘플 처리를 필요로 하지 않으면서 수 초 안에 정확하고 반복 가능한 측정이 가능합니다. 또한 SED 모델을 사용하면 박막 도량형 및 기타 재료 매개변수에 대한 정확한 감지 및 추적이 가능합니다. FILMETRICS F20 장비는 사용자가 필요한 매개변수를 정확하게 계산하고 결과를 시각화할 수 있도록 다양한 데이터 분석 (data analysis) 옵션을 제공합니다. 이 시스템은 데이터를 쉽게 공유하고 분석할 수 있도록 ASCII, CDF, 바이너리 (binary) 등 널리 사용되는 형식으로 데이터 출력을 제공할 수 있습니다. FILMETRICS F 20 장치는 반도체, 금속, 유전층 등 다양한 물질에 대해 정확하고 반복 가능한 측정을 제공 할 수 있습니다. 이 기계는 다양한 장치와 응용프로그램 (application) 에 대해 얇은 층과 표면 효과를 정확하고 빠르게 특성화하려는 연구원들에게 이상적인 플랫폼을 제공합니다.