판매용 중고 EM4SYS Personal AFM-100 #293773636

ID: 293773636
Atomic Force Microscope (AFM).
EM4SYS Personal AFM-100은 나노 스케일 수준에서 고해상도 이미징 및 정확한 측정을 위해 설계된 최첨단 원자력 현미경 (AFM) 입니다. 이 고급 실험실 장비는 우수한 성능, 다용도, 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 로 인정 받고 있으며, 다양한 연구 분야의 연구자와 과학자들에게 필수적인 도구입니다. Personal AFM-100 (Personal AFM-100) 의 주요 기능 중 하나는 탁월한 이미징 기능으로, 사용자가 미달의 세부 사항으로 샘플을 시각화하고 분석할 수 있습니다. 현미경은 시료 표면에 날카로운 프로브를 주사하여 작동하며, 프로브 (Probe) 와 시료 (Sample) 사이의 상호 작용을 측정하여 고해상도 이미지를 생성합니다. AFM-100은 고급 스캐닝 기능 (Scanning Capability) 과 민감한 검출 시스템 (Sensitive Detection System) 을 통해 나노미터 이하의 해상도로 표면 특징과 구조를 캡처하여 원자 수준의 재료의 특성과 형태에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 이미징 외에도 EM4SYS Personal AFM-100은 표면의 지형, 기계적 특성 및 샘플의 전기 전도성을 특성화하는 다양한 측정 모드 및 분석 도구를 제공합니다. 현미경은 다른 샘플 유형 및 실험 요구 사항을 수용하기 위해 접촉 모드 (contact mode), 탭 모드 (tapping mode) 및 동적 모드 (dynamic mode) 를 포함한 다양한 스캔 모드를 수행 할 수 있습니다. 사용자는 또한 힘 분광학, 접착 매핑 (adhesion mapping) 및 기타 특수 측정을 수행하여 정확도와 정확도가 높은 재료의 물리적, 화학적 특성을 연구 할 수 있습니다. AFM-100 에는 고급 제어 소프트웨어가 장착되어 있어 스캔 매개변수를 조작하고, 이미징 설정을 조정하고, 데이터를 실시간으로 분석할 수 있습니다. 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 간편한 탐색 및 작동이 가능하므로 초보자와 숙련된 사용자가 모두 액세스할 수 있습니다. 이 소프트웨어에는 이미지 분석, 3D 재구성 및 통계 계산을위한 고급 데이터 처리 도구 (Advanced Data Processing Tools for Image Analysis, 3D Reconstruction, Statistical Calculation) 가 포함되어 있어 연구원들이 측정 결과를 효율적으로 추출할 수 있습니다. 또한, Personal AFM-100은 견고하고 안정적인 설계를 통해 안정된 성능과 일관된 결과를 제공합니다. 현미경은 강성 프레임, 진동 격리 시스템, 고급 피드백 메커니즘을 특징으로하여 작동 중 소음, 드리프트, 기계적 교란을 최소화합니다. 이를 통해 사용자는 실험에 어려움을 겪는 경우에도 재현성과 정확성을 갖춘 고품질 (HA) 데이터를 얻을 수 있습니다. 또한 AFM-100 은 다양한 액세서리 (accessory) 와 옵션을 사용하여 기능을 확장하고 구체적인 연구 요구를 충족할 수 있습니다. 사용자는 환경 관리, 온도 조절, 특수 이미징 모드 (special imaging mode) 를 위한 추가 모듈을 통합하여 제어 조건에서 샘플을 조사할 수 있습니다. 현미경은 또한 다양한 샘플 유형 (sample type) 과 실험 설정 (experimental setup) 을 수용하기 위해 다양한 샘플 홀더, 프로브 및 이미징 팁과 호환됩니다. 전반적으로 EM4SYS Personal AFM-100은 고급 이미징, 측정 및 분석 기능을 작고 사용자 친화적 인 패키지에 결합한 최첨단 원자력 현미경입니다. 고성능 기능, 다재다능성, 신뢰성 등으로 인해 재료 과학, 나노 테크놀로지, 생물학, 그리고 나노 스케일 (Nanoscale) 세계를 탐험하려는 기타 분야의 연구자들에게 전례없는 디테일과 정확성으로 귀중한 도구입니다.
아직 리뷰가 없습니다