판매용 중고 EDAX HIT S-4700 #293597932

EDAX HIT S-4700은 재료의 구조와 조성을 분석하는 데 사용되는 고해상도 전자 백스캐터 회절 실험실입니다. 이 기구 는 과학자 들 이 함유 한 "나노구조 '와 결정학적 방향 을 자세히 관찰 할 수 있게 해 준다. HIT S-4700 (HIT S-4700) 은 재료 과학, 나노 기술 및 반도체 연구 분야에서 연구를 수행하는 모든 연구소에 적합한 선택입니다. 이 장치는 최첨단 전자 백스캐터 회절계 (EBSD) 로, 고에너지 전자원을 사용하여 역 흩어진 전자 빔을 만듭니다. 그런 다음 이 "빔 '은 약실 의" 샘플' 에 초점 을 맞추고 회절 된 전자 들 을 수집 하여 "EBSD '를 생성 시킨다. 이 패턴은 샘플의 결정 구조 및 방향에 대한 중요한 정보를 보여줍니다. EDAX HIT S-4700은 고해상도 빔을 사용하여 해상도에 영향을 미치지 않고 높은 정확도를 제공합니다. 픽셀 크기가 1 마이크로미터 미만이고 위상 대비 해상도가 최대 150 나노미터 (nanometer) 인 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이 장치는 0.5nm Cs 교정기, 0.75nm 포인트 스프레드 및 매우 안정적인 전자 빔을 특징으로합니다. HIT S-4700은 연구원들에게 분석 및 시각화를 위해 다양한 기능을 제공합니다. 패턴 이미지 정렬 및 분석, 그레인 크기 분석, 위상 방향 맵, 그레인 경계 분석, 스캔 크기 분석, 그레인 경계 연관, 푸리에 분석, 그레인 경계 곡률 등이 가능합니다. 이 도구는 또한 지능형 데이터 분석, 곡물 추적, 결정 식별 및 관련 형태, 글로벌 및 로컬 그레인 경계 측정 (Global and Local Grain Boundary Measurement) 이 가능한 현장에서 입증 된 소프트웨어와 함께 제공됩니다. 요컨대, EDAX HIT S-4700은 재료 과학 및 나노 기술 분야의 연구자들을 돕기 위해 특별히 설계된 고급적이고 강력한 장치입니다. 이 장치는 고급 기능과 고해상도 (고해상도) 이미지를 통해 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 여기에 포함된 소프트웨어는 분석 (analysis) 과 시각화 (visualization) 를 위한 강력한 도구를 제공하며, 연구원들이 샘플의 본질과 구성에 대한 귀중한 통찰력을 발견하도록 도와줍니다.