판매용 중고 PHILIPS / FEI Strata 205 #293818080

PHILIPS/FEI Strata 205는 전자 현미경 및 미세 분석 분야에서 고정밀 샘플 준비를 위해 설계된 정교한 이온 밀링 장비입니다. 이 시스템은 고급 이온 밀링 (ion milling) 기술을 통합하여 나노 스케일 (nano scale) 수준에서 정확한 재료 제거를 달성하여 초미세 표면 마감 (ultrafine surface finish) 이 필요한 연구 및 분석 응용 프로그램에 귀중한 도구입니다. FEI 스트라타 205 (FEI Strata 205) 의 중심에는 이온 원 (ion source) 이 있으며, 이는 샘플 표면에 전달 될 수있는 이온의 집중된 빔을 생성합니다. 이러 한 활력 이 넘치는 "이온 '으로 표본 을 폭격 함 으로써, 물질 을 분출 하여 조절 할 수 있게 된다. 이 과정은 TEM (Transmission Electron Microscopy) 분석을 위해 원하는 두께로 샘플을 얇게 만들고, 표면 손상을 제거하거나, 상세한 미세 구조 분석을 위해 단면을 준비하는 데 이상적입니다. PHILIPS Strata 205의 주요 특징 중 하나는 ion beam 컨트롤의 유연성입니다. 사용자는 빔 에너지 (beam energy), 전류 (current) 및 입사각 (angle of incidence) 과 같은 매개변수를 조정하여 밀링 프로세스를 특정 샘플 요구사항에 맞게 조정할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 재료 제거 속도 (material removal rate) 를 정확하게 제어할 수 있으므로 높은 정확도와 재현성으로 샘플을 준비할 수 있습니다. 스트라타 205 (Strata 205) 는 고급 이온 빔 제어 기능 외에도 다양한 샘플 처리 기능을 갖추고 있어 사용자 경험과 생산성을 향상시킵니다. 이 장치에는 다용도 스테이지 머신 (stage machine) 이 포함되어 있어 밀링 중 샘플 로드와 정확한 위치를 쉽게 지정할 수 있습니다. 자동 제어 (Automated controls) 및 소프트웨어 인터페이스를 통해 샘플 준비 프로세스를 더욱 간소화하여 사용자는 쉽게 공구를 효율적으로 탐색하고 복잡한 밀링 작업을 수행할 수 있습니다. PHILIPS/FEI Strata 205에는 샘플 준비를 돕기 위해 고급 이미징 및 모니터링 도구가 장착되어 있습니다. 실시간 이미징 시스템은 밀링 프로세스에 대한 시각적 피드백을 제공하여 필요에 따라 샘플 라이닝 (thinning) 을 모니터링하고 매개변수를 조정할 수 있습니다. 또한, RHEED (Reflection High Energy Electron Diffraction) 와 같은 현장 모니터링 도구는 밀링 중 샘플 표면 구조 및 품질에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. FEI Strata 205는 사용자 안전성과 자산 신뢰성을 고려하여 설계되었습니다. 이 모델은 사고를 예방하고 작동 중 운영자 보호를 보장하기 위해 안전 연결 (Safety Interlock) 을 내장하고 있습니다. 또한, 이 장비는 견고성과 장기적인 성능을 제공하도록 설계되어, 까다로운 연구 환경을 위한 신뢰할 수 있는 도구입니다. 전반적으로, PHILIPS Strata 205 이온 밀링 시스템은 전자 현미경 및 미세 분석에서 고정밀 샘플 준비를위한 강력하고 다재다능한 도구입니다. 고급 이온 빔 제어 기능, 사용자 친화적 인 기능, 신뢰할 수있는 성능을 갖춘 스트라 타 205 (Strata 205) 는 초미세 표면 마무리와 나노 스케일 (nano-scale) 수준에서 정확한 재료 제거가 필요한 다양한 분야에서 일하는 연구자와 분석가들에게 귀중한 자산입니다.