판매용 중고 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i #293799586

ID: 293799586
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Gas injection system for deposition: SiO2, Pt Manipulator resolution Transmission Electron Microscopy (TEM) sample kit PC.
PHILIPS/FEI Nova Nano Lab 60i는 고급 재료 분석 및 nanofabrication 응용 프로그램을 위해 설계된 최첨단 이온 밀링 장비입니다. 이 강력한 도구는 정밀 나노 (nanofabrication) 공정에서 탁월한 성능과 다용성을 제공하여 나노 기술, 재료 과학, 반도체 제조 분야의 연구원 및 엔지니어에게 필수적인 도구입니다. 이 시스템은 나노 스케일 수준에서 정밀 밀링, 에칭 및 증착 공정을 위해 고에너지 이온 빔을 생성하는 정교한 이온 빔 (ion beam column) 을 특징으로합니다. 이를 통해 정밀도 및 제어가 높은 재료의 조작 및 수정이 가능하며, 하부 나노 미터 해상도로 복잡한 나노 구조 및 패턴을 만들 수 있습니다. FEI Nova Nano Lab 600i의 주요 기능 중 하나는 고급 이미징 기능으로, 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 및 집중형 이온 빔 (FIB) 이미징이 포함됩니다. 이러한 이미징 모듈은 샘플 지형, 구성 및 구조에 대한 자세한 통찰력을 제공하여 밀링 프로세스를 실시간으로 모니터링 및 분석할 수 있습니다. 또한 샘플의 원소 분석 및 매핑을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 이 장착되어 기기의 분석 능력을 더욱 향상시킵니다. 이온 밀링 머신 (ion milling machine) 은 높은 처리량으로 정확한 재료 제거 및 얇아질 수 있으며, 이는 전송 전자 현미경 (TEM) 에 대한 샘플 준비, 장치 프로토 타입, 회로 편집 및 실패 분석과 같은 광범위한 응용 분야에 이상적입니다. 이 도구는 갈륨 (Ga), 네온 (Ne) 및 제논 (Xe) 을 포함한 다양한 이온 빔 종을 제공하여 특정 재료 특성 및 요구 사항에 맞게 맞춤형 밀링 프로세스를 허용합니다. PHILIPS Nova Nano Lab 60i에는 사용자 편의성과 워크플로우 효율성을 향상시키는 고급 자동화 및 소프트웨어 제어 기능이 장착되어 있습니다. 이 자산에는 매개 변수 설정, 레시피 개발, 데이터 분석, 실험 프로세스 간소화, 빠르고 재현 가능한 결과를 제공하는 직관적인 소프트웨어 인터페이스가 포함되어 있습니다. 또한, 이 기기는 자동화된 단계 탐색 및 샘플 처리 기능을 제공하여, 사용자의 개입을 최소화하면서 여러 샘플의 처리량을 높일 수 있습니다. 또한, 이온 밀링 (ion milling) 모델은 다양한 연구 요구를 충족하는 맞춤형 구성 및 액세서리를 갖춘 다용도 및 적응성을 위해 설계되었습니다. 내부 리프트 아웃 시스템 (in-situ lift-out system), 가스 분사 시스템 (gas injection system) 및 극저온 샘플 홀더 (cryogenic sample holders) 와 같은 옵션 기능은 기기의 기능을 확장하고 nanofabrication, 장치 특성 및 재료 연구에서 더 광범위한 응용 프로그램을 가능하게합니다. 결론적으로, Nova Nano Lab 60i 이온 밀링 장비는 고급 재료 분석 및 nanofabrication 작업을위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 첨단 이온 빔 (ion beam) 기술, 고해상도 이미징 기능, 자동화 기능, 사용자 정의 가능한 구성을 갖춘 이 기기는 연구자와 엔지니어들에게 나노 과학 (nanoscience) 과 기술의 경계를 넓히는 강력한 도구를 제공합니다.
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