판매용 중고 HITACHI IML-4-1 #293807298

HITACHI IML-4-1은 재료 과학, 반도체 연구, 생물학적 연구 등 다양한 분야에서 정확하고 고성능 샘플 준비를 위해 설계된 고급 이온 밀링 장비입니다. 이 최첨단 시스템은 이온 빔 기술을 사용하여 SEM (Scanning Electron Microscope) 및 TEM (Transmission Electron Microscopes) 의 영상 및 분석을 위해 샘플을 정확하게 에칭하고 폴란드화합니다. IML-4-1의 중심에는 이온 소스 (ion source) 가 있으며, 이는 일반적으로 아르곤 (argon) 이나 네온 (neon) 과 같은 고귀한 가스를 사용하여 이온의 집중된 빔을 생성합니다. 이러 한 "이온 '들 은" 스퍼터링' 및 물리적 증기 증착 과정 을 통하여 물질 과 상호 작용 하는, 표면 을 향해 가속화 된다. 이를 통해 단위는 예제 표면에서 정밀도 (precision) 와 제어 (control) 를 통해 재료를 제거하여 극도로 미세한 연마 및 에칭 기능을 사용할 수 있습니다. HITACHI IML-4-1 (HITACHI IML-4-1) 의 주요 기능 중 하나는 고해상도 이미징 기능으로, 기계의 정확한 이온 빔 제어와 뛰어난 균일성을 통해 활성화됩니다. 이로써 샘플 준비 품질이 뛰어나며, 샘플은 이미징 (imaging) 및 분석 결과에 영향을 줄 수 있는 인공물과 손상이 없도록 합니다. 또한, 이 도구는 광범위한 이온 빔 에너지 (ion beam energy) 와 전류를 제공하여 사용자가 밀링 프로세스를 특정 샘플 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. IML-4-1 (IML-4-1) 에는 밀링 매개변수를 쉽게 프로그래밍하고 제어할 수 있는 사용자 친화적 인 인터페이스가 장착되어 있습니다. 사용자는 정확한 밀링 패턴을 정의하고, 이온 빔 매개변수를 선택하고, 실시간으로 밀링 진행률을 모니터링할 수 있습니다. 이러한 제어/자동화 수준은 운영자 오류를 최소화하고 여러 샘플에서 반복 가능하고 일관된 결과를 보장합니다. 또한, HITACHI IML-4-1은 다양한 크기와 모양의 샘플을 수용하는 다용성과 유연성을 위해 설계되었습니다. 이 에셋은 여러 샘플 홀더 (sample holder) 와 스테이지 구성 (stage configuration) 을 갖추고 있으므로 다양한 유형의 샘플을 쉽게 처리할 수 있습니다. 이것은 반도체 소자 준비에서 생물학적 샘플 얇아짐 (biological sample thinning) 에 이르기까지 광범위한 응용 분야에 이상적입니다. IML-4-1 (IML-4-1) 은 샘플 준비 기능 외에도, 운영자와 모델 자체를 보호하기 위한 고급 안전 (safety) 기능도 갖추고 있습니다. 이러한 안전 기능에는 인터 록 (interlock), 진공 센서 및 항상 안전한 작동을 보장하는 비상 정지 기능이 포함됩니다. 장비에 대한 투자 보호뿐 아니라 이온 빔 (ion beam) 기술 (ion beam) 과 관련된 위험으로부터 사용자를 보호합니다. 전반적으로 HITACHI IML-4-1은 단일 플랫폼에서 정밀도, 성능, 안전성을 결합한 최첨단 이온 밀링 시스템입니다. 전자현미경 (Electron Microscopy) 및 기타 분석 기법을위한 고품질 샘플 준비가 필요한 연구자와 과학자들에게 필수적인 도구다. 최첨단 기술과 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 IML-4-1 (IML-4-1) 은 연구/산업 분야의 이온 밀링 시스템에 대한 새로운 표준을 제시합니다.