판매용 중고 GATAN 626 #293828252

개탄 626 (GATAN 626) 은 제어된 환경에서 샘플에서 정밀 재료를 제거하도록 설계된 고성능 이온 밀링 장비입니다. 이 시스템은 TEM (Transmission Electron Microscopy) 분석, 단면 분석 및 박막 생산을위한 샘플을 준비하기 위해 재료 과학, 전자 및 반도체 산업 분야에서 널리 사용되는 다목적 도구입니다. 626 단위의 핵심에는 이온 원 (ion source) 이 있는데, 이온 원 (ion source) 은 샘플 표면을 폭격 한 고 에너지 이온 빔을 생성하여 물질을 분출하여 매끄럽고 평평한 표면을 만듭니다. 이온 빔은 에너지, 전류 밀도, 입사각 (angle of incidence) 측면에서 정확하게 제어 할 수 있으며, 밀링 공정의 미세 튜닝을 통해 원하는 결과를 얻을 수 있습니다. 이 수준의 제어는 샘플을 손상시키거나 아티팩트를 도입하지 않고 정확한 재료 제거를 달성하는 데 중요합니다. GATAN 626 기계에는 밀링 성능과 효율성을 향상시키기 위해 고급 기능이 장착되어 있습니다. 한 가지 주요 특징은 샘플 단계를 회전하고 기울이며, 전체 샘플 서피스에서 균일 한 밀링 (milling) 을 허용하고, 레이어 구조의 횡단면 분석을 가능하게 하는 기능입니다. 또한, 이 도구에는 사내 모니터링 및 피드백 메커니즘 (예: 이온 빔 전류 측정 및 샘플 표면 이미징) 이 장착되어 밀링 공정의 실시간 제어 및 최적화를 보장합니다. 이 자산에는 운영자 (operator) 와 샘플 (sample) 을 잠재적 위험으로부터 보호하기 위한 다양한 안전 기능도 포함되어 있습니다. 여기에는 이온 빔 (ion beam) 에 우발적으로 노출되는 것을 방지하기위한 인터 록 (interlock), 밀링 챔버의 무결성을 유지하기 위한 진공 인터 록 (vacuum interlock) 및 문제가 있는 경우 즉시 종료하기위한 비상 정지 버튼 (emergency stop button) 이 포함됩니다. 626 모델은 밀링 매개변수 (milling parameter) 및 밀링 프로세스 모니터링을 쉽게 프로그래밍할 수 있는 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 제어됩니다. 연산자는 이온 빔 설정 (ion beam settings), 샘플 스테이지 위치 (sample stage position) 및 모니터링 매개변수를 실시간으로 조정하여 다양한 샘플 유형과 크기에 대해 밀링 프로세스를 최적화할 수 있습니다. 성능 측면에서, GATAN 626 장비는 높은 밀링 속도와 나노 미터 이하의 정밀도를 제공합니다. 이 정밀도 (precision level) 는 장치 고장 분석, 재료 특성, 나노 기술 연구 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 626 시스템은 이온 밀링 응용프로그램 (ion milling application) 을 위한 신뢰할 수 있고 견고한 도구로서, 연구자와 엔지니어들에게 고급 분석을 위한 높은 정확도와 효율성을 갖춘 샘플을 준비할 수 있는 능력을 제공합니다. 고급 기능, 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface), 안전 메커니즘 (safety mechanism) 은 정확한 재료 제거 및 샘플 준비 기능이 필요한 실험실 또는 생산 시설에서 귀중한 자산이됩니다.