판매용 중고 FISCHIONE INSTRUMENTS 1051 #293822831

FISCHIONE INSTRUMENTS 1051 이온 밀링 장비는 전자 현미경 샘플의 제조에 사용되는 고도의 다재다능한 장비입니다. 이온 밀링 (Ion milling) 은 물질을 제거하기 위해 이온으로 샘플을 폭격하고 영상 및 분석을위한 부드러운 표면을 만드는 강력한 기술입니다. 1051 (1051) 은 밀링 공정을 정확하게 제어할 수 있도록 설계되어, 최소한의 손상으로 고품질 샘플을 만들 수 있습니다. FISCHIONE INSTRUMENTS 1051의 중심에는 이온 빔 (일반적으로 아르곤 또는 갈륨) 을 생성하는 이온 소스가 있는데, 이는 샘플 표면을 향해 가속화됩니다. 이온 빔 (ion beam) 은 에너지, 전류, 빔 모양으로 조정되어 밀링 프로세스를 샘플의 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. 이 시스템은 다양한 이온 소스 (ion source) 를 갖추고 있으며, 특정 샘플 재료에 가장 적합한 이온 빔 (ion beam) 과 원하는 밀링 결과를 선택할 수 있습니다. 1051의 주요 기능 중 하나는 고급 빔 스캔 기능입니다. 이 장치는 정교한 스캐닝 알고리즘 (scanning algorithms) 을 사용하여 샘플 서피스의 균일 한 적용 범위를 보장하며, 전체 샘플에서 일관된 밀링 깊이를 제공합니다. 이는 샘플 두께를 정확하게 제어해야 하는 TEM (Transmission Electron Microscopy) 분석을위한 고품질 단면 샘플을 만드는 데 특히 중요합니다. 정확한 빔 제어 외에도, FISCHIONE INSTRUMENTS 1051은 밀링 공정을 더욱 향상시키기 위해 다양한 샘플 조작 옵션을 제공합니다. 기계는 다양한 크기와 모양의 샘플을 수용할 수 있으며, 샘플 단계를 회전하고 기울여 여러 각도에서 밀링 (milling) 할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 사용자는 다른 샘플 유형에 대해 밀링 프로세스를 최적화할 수 있으며, 특정 분석 요구사항에 대해 원하는 샘플 형상을 달성할 수 있습니다. 1051 에는 사용자 (user) 와 악기 (instrument) 를 안전하게 보호하기 위한 포괄적인 안전 (safety) 기능이 장착되어 있다. 인터 록 (Interlock) 과 모니터링 시스템 (Monitoring System) 은 이온 빔에 대한 우발적 노출을 방지하고 비정상적인 작동 조건이 발생할 경우 도구를 종료합니다. 또한, 자산은 스퍼터링 된 재료 (sputtered material) 와 같은 유해한 부산물의 생성을 최소화하고, 깨끗한 작업 환경을 보장하며, 샘플의 무결성을 유지하도록 설계되었습니다. 전반적으로 FISCHIONE INSTRUMENTS 1051 이온 밀링 모델은 고품질 전자 현미경 샘플을 준비하기위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 이 장비는 정확한 빔 제어 (beam control), 고급 스캐닝 기능 (advanced scanning capability) 및 다양한 샘플 조작 옵션을 통해 최소한의 샘플 손상으로 우수한 밀링 결과를 얻을 수 있습니다. 일상적인 샘플 준비 또는 보다 복잡한 재료 분석 응용프로그램을 위해, 1051 은 오늘날 까다로운 연구 환경에 요구되는 성능과 신뢰성을 제공합니다 (영문).