판매용 중고 FEI Helios NanoLab 660 #293817478

FEI Helios Nano Lab 660은 단면 이미징 및 나노 스케일 분석을 위해 설계된 업계 최고의 이온 밀링 장비로, 샘플의 정밀 얇아짐을 나노 미터까지 허용합니다. 고유 한 듀얼 빔 시스템은 주사 및 전송 전자 현미경 (SEM/TEM) 을 결합하여 샘플 표면을 최대 0.5 나노 미터까지 스케일 해상도로 효과적으로 에치 및 이미지화합니다. 이 장치는 집중된 이온 빔 (FIB) 을 사용하여 고전하 이온 스트림이있는 얇은 샘플을 사용합니다. 생성 된 "이온 '은 표본 에서 제거 될 물질 쪽 으로 향하고," 빔' 의 궤적 과 "에너지 '를 조절 하여 원하는 식각 깊이 를 달성 한다. 이것 은 몇 "나노미터 '까지 정확 히 제거 할 수 있다. Helios Nano Lab 660에는 밀링 중 샘플을 실시간으로 관찰 할 수있는 최첨단 원격 이미징 머신도 포함되어 있습니다. FEI Helios Nano Lab 660은 비전 도구 (vision tool) 를 내장하여 에칭 중에 다양한 각도와 확대율로 샘플 이미지를 찍을 수 있습니다. 또한 사용자는 프로세스 중에 찍은 이미지를 저장하고 나중에 참조할 수 있도록 저장할 수 있습니다 (영문). 에셋의 자동 밀링 (automated milling) 소프트웨어는 마찬가지로 다양한 샘플 재료에 대한 매개변수 (parameter) 와 모니터링 (monitor) 설정을 설정할 수 있는 용량을 제공합니다. 여기에는 원하는 에칭 속도, 깊이, 가스 유형 및 온도 설정이 포함됩니다. 또한 저에너지 (low-energy) 와 고에너지 (high-energy) 이온 빔 사이를 전환하여 에칭 프로세스를 보다 효율적이고 균일하며 정확하게 제어 할 수있는 이중 소스 설정이 있습니다. Helios Nano Lab 660 모델은 상업 및 학술 실험실에서 사용하도록 설계되었으며, 다양한 응용 프로그램 및 샘플로 이미징 및 분석을 허용합니다. 여기에는 실패 분석, 결함 조사, 부식 매핑 및 3D 이미징과 같은 특성화가 포함됩니다. FEI Helios Nano Lab 660은 저렴한 가격으로 사용자에게 친숙한 고성능 기능으로 설계되었습니다. 이것은 나노 스케일 이미징 (nanoscale imaging) 과 분석을 수행하는 신뢰할 수있는 방법을 찾는 모든 크기의 실험실에 매력적입니다. 최첨단 듀얼 빔 장비와 고급 이미징 기능을 갖춘 헬리오스 나노랩 (Helios Nano Lab) 660 은 고해상도 이미징 및 샘플 준비 작업에 이상적인 제품입니다.