판매용 중고 FEI FIB 800 #9195240

FEI FIB 800은 광범위한 재료 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 의 한 유형입니다. 강렬한 전자 빔을 사용하여 샘플을 스캔하고 높은 배율로 이미지를 생성합니다. 전자 빔은 진공 챔버에서 고전압으로 작동하는 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 에 의해 생성됩니다. 이 시스템은 고해상도로 이미지를 캡처하는 데 사용되는 매우 상세한 나노프로브 (nanoprobes) 를 생성할 수 있습니다. FIB 800은 최대 2000nm의 해상도를 제공합니다. 이 샘플은 작은 단계 (steps) 로 샘플을 이동할 때 사용할 수 있는 일련의 선형 모터 (linear motor) 에 부착된 스테이지에 마운트됩니다. "빔 '은 전극 과 여러 가지" 렌즈' 에 의하여 표본 에 초점 을 맞추며, 넓은 시야 를 만들어 낸다. 검출기 (detector) 는 샘플과 상호 작용하는 전자에서 생성 된 신호를 포획하는 데 사용된다. 그런 다음, 데이터를 사용하여 피쳐와 결함에 대해 분석할 수 있는 이미지를 생성합니다. FEI FIB 800에는 다양한 전자 제품, 진공 펌프, 전원 공급 장치, 냉각 시스템 등 다양한 유용한 기능이 장착되어 있습니다. 또한 3 축 및 원격 제어 시스템이 있으므로 샘플 스테이지를 원격 제어할 수 있습니다. 가속 전압은 0.1 ~ 30kV에서 조정 할 수 있으며, 조정 가능한 빔 전류는 해상도를 추가로 제어합니다. FIB 800은 금속 (metal) 에서 반도체 (semiconductor) 에 이르는 다양한 샘플의 검사 및 분석을위한 다재다능한 도구입니다. 고도배율로 고품질 이미지를 제작해 엔지니어와 연구자들이 소재의 특징에 대한 통찰력을 얻도록 돕는다. & # 160; & # 160; & # 160; 다양한 기능과 조정성으로 인해 FEI FIB 800은 다양한 현미경 응용 프로그램에 적합한 선택입니다.