판매용 중고 MCT 4610H #199017

MCT 4610H는 프런트엔드 반도체 테스트를 위해 설계된 지능형 핸들러입니다. 첨단 인공지능 (Advanced Artificial Intelligence) 과 자동화 (Automation) 를 통합하여 광범위한 반도체 장치를 빠르고 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 4610H 처리기는 수작업 없이 각기 다른 반도체 제품을 처리하기 위한 유연하고 자동화된 솔루션입니다. 이 제품은 웨이퍼 프로버 (Wafer Prober), 테이퍼 (Taper) 및 기타 테스트 장비와 직접 연결되도록 설계되었으며, 현장에서 운영자가 필요하지 않은 상태에서 빠른 설정을 가능하게 합니다. MCT 4610H 는 최대 20 개의 독립적인 처리 영역 (handling zone) 을 통해 하나의 장치에서 여러 디바이스 유형을 효율적으로 병렬 테스트할 수 있습니다. 핸들러는 2 개의 독립적 인 진공 시스템과 250 mm의 X-Y 모션을 갖춘 강력한 내부 챔버 설계를 사용합니다. 최대 127mm 직경의 장치를 처리 할 수 있으며, 최대 300mm 크기의 웨이퍼를 처리 할 수 있습니다. 또한 자동화된 테스트 인터페이스 (Test Interface) 및 진단을 위한 정확한 장치 배치를 위한 내장형 주변 장치 비전 카메라가 있습니다. 고급 안전 기능에는 테스트 샘플을 신속하게 대피하기위한 비상 엑시트 시스템 (Emergency Exit System) 과 과잉 스트레스로부터 테스트 샘플을 보호하기 위한 내장 스트레스 가드 장치 (Stress Guard Unit) 가 포함됩니다. 4610H에는 고급 소프트웨어 및 분석 도구도 함께 제공됩니다. 고급 분석 (Advanced analytics) 을 사용하여 테스트 실패의 근본 원인을 정확히 파악하고 테스트 계획을 최적화하여 테스트 대상 제품의 품질 관리 (Quality Control) 를 개선할 수 있습니다. 고급 보고 툴 (Advanced Reporting Tools) 을 통해 사용자는 테스트 결과에 대해 효율적으로 보고하고, 추가 테스트 제품 세부사항을 위한 권장 사항을 제공하거나, 추가 분석을 위한 추가 샘플을 제공할 수 있습니다. 장치 성능에 대한 실시간 피드백은 시스템의 원격 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해서도 액세스할 수 있습니다. 요약하면, MCT 4610H는 반도체 장치 테스트를 위한 강력하고 자동화된 취급 솔루션입니다. 견고한 설계, 고급 분석 (Advanced Analysics), 통합 주변 장치 (Integrated Peripheral) 를 통해 여러 장치를 병렬로 빠르고 효율적으로 테스트할 수 있으며, 시간과 비용을 절감하고 안정적이고 품질 있는 테스트 결과를 얻을 수 있습니다.