판매용 중고 DELTA DESIGN Matrix II / DM 8888 #293744214

ID: 293744214
빈티지: 2015
Handler JEDEC Tray Dryer Step down transformer Tri-Temperature test range: -40 ~175°C with LN2 Temperature control range: -55°C to +175°C Air (CDA) System: 0.414 to 0.69 MPa, 566 L/min, -10°C Air (CDA), Thermal purge: 0.414 to 0.69 MPa, 340 L/min, -70°C LN2: 0.276 to 0.483 MPa, 0.88 L/min +15% at -55°C Interface: IEEE 488.1 (GPIB) RS-232 (P849) Package type: QFP BGA LGA QFN TSOP Operating system: Windows XP Power supply: 200-240 VAC, 12.5 kVA, 3 Phase, 50/60 Hz, 30 A 2015 vintage.
DELTA DESIGN Matrix II/DM 8888은 생산 환경에서 빠르고 안정적인 집적 회로 (IC) 테스트를 제공하기 위해 설계된 최첨단 반도체 테스트 핸들러입니다. 이 핸들러는 반도체 업계의 까다로운 요구 사항을 충족하기 위해 특별히 설계되었으며, 테스트 프로세스를 간소화하고 정확하고 효율적인 IC (IC) 테스트를 위한 고급 기능과 기능을 제공합니다. DM 8888 핸들러는 유연하고 모듈식 (modular) 설계를 통해 다양한 테스트 장비, 소프트웨어 플랫폼과 손쉽게 맞춤 구성하고 통합할 수 있습니다. 소형 설치 공간 (compact footprint) 과 견고한 구조 (struction) 를 갖추고 있어 공간이 프리미엄 (premium) 인 대용량 생산 환경에 적합합니다. 이 핸들러는 QFN, BGA, TSOP 등 다양한 IC 패키지 유형과 크기를 수용할 수 있도록 설계되었으며, 다양한 테스트 요구를 충족할 수 있는 다양한 기능과 유연성을 제공합니다. Matrix II/DM 8888 핸들러 (Matrix II/DM 888 Handler) 의 주요 특징 중 하나는 높은 처리량 기능으로, 엄격한 생산 마감 시한을 충족하는 신속한 IC 테스트를 가능하게 합니다. 이 핸들러에는 로봇 픽 앤 플레이스 암 (Robotic Pick and Place Arm) 과 정확한 처리 메커니즘을 포함한 고급 자동화 기능이 장착되어 테스트 프로세스 동안 부드럽고 효율적인 IC 처리를 보장합니다. 이 자동화된 처리 시스템은 사람의 개입을 최소화하여, 오류 위험을 줄이고, 전반적인 테스트 효율성을 높입니다. DM 8888 핸들러는 기능 테스트, 전기 특성 테스트, 신뢰성 테스트 등 다양한 테스트 어플리케이션을 지원하도록 설계되었습니다. 온도 조절 (Temperature Control) 기능을 통해 다양한 온도 조건에서 IC를 테스트하여 다양한 작동 조건에서 성능 및 신뢰성을 평가할 수 있습니다. 또한 고급 통신 인터페이스와 소프트웨어 통합 옵션 (Software Integration Option) 을 갖추고 있어 테스트 프로그램, 데이터 관리 시스템 등을 원활하게 통합하여 테스트 작업을 간소화할 수 있습니다. 고급 테스트 기능 외에도, DELTA DESIGN Matrix II/DM 8888 핸들러는 안전 및 신뢰성을 우선시하며, 오류 감지 및 예방 메커니즘, 비상 정지 기능, 자동 장애 방지 시스템 등의 기능을 통합하여 귀중한 IC 보호 및 안전한 테스트 환경 유지. 이 처리기 (handler) 는 품질과 신뢰성에 대한 엄격한 업계 표준을 충족하도록 설계되었으며, 전 세계 반도체 제조업체에 신뢰할 수 있는 툴이 되었습니다. 전반적으로 Matrix II/DM 8888 핸들러는 반도체 테스트 자동화를 위한 최첨단 솔루션으로, 반도체 업계의 발전하는 요구를 충족하는 고속 테스트, 고급 자동화 기능, 다목적 테스트 기능을 제공합니다. 견고한 설계, 높은 처리량, 종합적인 테스트 기능을 갖춘 핸들러 (Handler) 는 다양한 애플리케이션에 대한 효율적이고 안정적인 IC 테스트를 달성하고자 하는 반도체 제조업체의 귀중한 자산입니다.
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