판매용 중고 ADVANTEST M 6761 #9217650

ADVANTEST M 6761은 특히 반도체 장치 테스트를 위해 설계된 모듈 식, 고주파, 전기 테스트 핸들러입니다. 최신 자동 (automated) 기능을 통해 반도체 제조 환경에서 웨이퍼 (wafer) 수준의 신뢰성과 장치 특성을 위해 패키지 및 베어 다이 (bare dies) 를 테스트할 수 있습니다. ADVANTEST M6761 처리기에는 반도체 장치 테스트에 필수적인 다양한 기능이 장착되어 있습니다. 이 제품은 테스트 환경에서 향상된 유연성과 편리함을 제공하는 컴팩트한 디자인 (compact design) 을 갖추고 있습니다. 이 "핸들러 '는 장치 의 성능 을 저하 시키지 않고 수송 할 수 있는" 샘플' 을 쉽게 수송 할 수 있도록 설계 되었다. 자동 웨이퍼 처리 시스템은 또한 효율적인 웨이퍼 테스트 및 로딩을 허용합니다. M 6761 핸들러는 다양한 고주파 테스트 및 측정 기능으로 설계되었습니다. 통합 전체 온도 범위 테스트 기능 (최대 200-C) 이 가능합니다. 또한 DC 패라메트릭 및 고속 스위칭 (최대 200kHz) 이 통합되어 있습니다. 또한 동적 테스트를 위해 내장 60V 펄스 발전기가 장착되어 있습니다. 또한, 핸들러에는 고장 테스트를위한 플래시 역전류, 장치 특성화를위한 펄스 너비/위상 측정, 구성 요소 분석을위한 다중 신호 측정이 장착되어 있습니다. M6761 핸들러는 내구성이 뛰어나고 안정적으로 설계되었습니다. 통합 모듈식 설계를 통해 유지 관리 요구 사항을 최소화하면서 효율적인 테스트를 수행할 수 있습니다. 핸들러에는 독립 장치 테스트 전원 공급 장치 (IV 및 Vf) 와 사용자가 선택할 수있는 48V 및 15A의 고출력 전원이 장착되어 있습니다. 또한 ADVANTEST M 6761 핸들러에는 효율적인 냉각을 위해 고류 팬도 장착되어 있습니다. 전반적으로, ADVANTEST M6761 핸들러는 효율적인 반도체 장치 테스트를 위해 설계된 신뢰할 수있는 고속 핸들러입니다. 자동 웨이퍼 처리 시스템은 성능을 저하시키지 않고 샘플을 쉽게 전송 할 수 있습니다. 또한, 광범위한 테스트 기능과 고성능 기능으로 인해 반도체 장치 테스트에 이상적인 선택이 됩니다.