판매용 중고 ADVANTEST M 6541AD #9302532

ADVANTEST M 6541AD는 최대 2048 핀의 효율적인 IC 테스트를 위해 설계된 소형 고속 핸들러입니다. 동적 테스트 프로그램 변환, 즉석 모드 변경, 총 테스트 시간 단축 (total test time reduction) 등의 고급 기능이 장착되어 있습니다. 핸들러에는 다양한 테스트 요구 사항을 위해 2 개의 현장 교체 가능한 MTH (Magnetic Test Head) 가 있습니다. 장점 M6541AD는 최대 IC 크기가 40mm x 40mm 인 웨이퍼 및 리드 패키지를 모두 수용 할 수 있습니다. 또한 트레이-투-트레이, 테이프-투-트레이 등의 다중 로드 및 언로드 체계를 사용할 수 있습니다. 테스트 장비에는 IC 검사 과정에서 다양한 결함을 감지하는 데 사용되는 AIS (Auto-Inspection System) 가 포함됩니다. 테스트 장치에는 고속 비전 머신 (high-speed vision machine) 과 인접한 광원 (area light source) 과 웨이퍼 매퍼/트레이서 (wafer mapper/tracer) 가 모두 장착되어 있습니다. M6541 AD의 고속 속도는 고급 동적 반도체 테스트 기술을 통해 달성됩니다. DUT (Dynamic Test Program) 변환 기능은 사용자가 DUT 또는 핀 등의 테스트 매개변수가 변경될 때마다 이 도구를 다시 프로그래밍할 필요가 없습니다. 즉석 모드 변경 (On-the-fly mode change) 기능은 테스트 중에 여러 테스트 모드를 자동으로 전환하여 데이터를 캡처하는 데 소요되는 시간을 줄입니다. 전체 테스트 시간 단축 (Total Test Time Reduction) 기능은 각 DUT 테스트에 소요되는 시간을 줄여 전체 처리량을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. MTH (Magnetic Test Head) 는 최고의 테스트 다용성을 위해 설계되었습니다. MTH 는 프로그래밍 가능한 주파수 및 오버드라이브 (overdrive) 기능과 결합된 전압을 통해 다양한 IC 와 패키지를 테스트할 수 있습니다. MTH에는 IC와 테스터 (tester) 간의 안전하고 안정적인 연결을 제공하는 접촉 헤드 열 교환기 (Contact Head Heat Exchange) 가 장착되어 있습니다. M 6541 AD 핸들러는 IC 테스트의 효율성을 극대화하기 위해 설계되었습니다. 고급 기능과 고속 (High Speed) 기능을 갖춘 이 솔루션은 대용량 테스트 환경에 이상적인 솔루션입니다. 처리량이 증가합니다.