판매용 중고 ADVANTEST M 6300 #9407149

ADVANTEST M 6300 핸들러는 하이엔드 디바이스를 지원하도록 설계된 고급 반도체 테스트 솔루션입니다. 혼합 신호, 아날로그, 디지털 및 광전자 장치를 포함한 모든 유형의 IC (Automated Testing of Integrated Circuit) 를 제공합니다. 이 장비에는 단일 핸들러에서 최대 20,000 핀/초의 고속 테스트를 지원하는 TEG + 테스트 플랫폼이 장착되어 있습니다. 또한 효율적인 생산환경 (production environment) 에서 운영할 수 있으며, 경쟁사보다 훨씬 저렴한 비용으로 작업할 수 있습니다. ADVANTEST M6300 핸들러에는 여러 IC를 동시에 고속 병렬 테스트할 수 있는 고급 멀티 사이트 Probing 기능이 있습니다. 따라서 처리량이 극대화되고 효과적으로 테스트된 디바이스의 수가 늘어납니다. 이 시스템은 또한 다이 바이 프로브 (die-by-die probing) 를 갖추고 있으며 작은 칩을 효율적으로 테스트 할 수 있습니다. 이 기술은 일반적으로 다이 크기가 작은 MEMS 및 ASIC에 특히 유용합니다. 이 장치는 다수의 통신 인터페이스를 지원하며 SureTest, Datacon Systems, Teledyne 등과 같은 여러 타사 로드보드와 호환됩니다. 직접 융합 결합 프로브 팁 (direct fusion bonded probe tip) 이 있으며, RF 신호의 효과적인 전송을 보장하고 인덕턴스로 인한 신호 손실을 방지합니다. M 6300 기계는 동기식 (synchronous) 및 비동기식 (asynchronous) 모드로 작동하며 소매 또는 엔지니어링 샘플에 맞게 구성할 수 있습니다. 이 시스템은 다양한 장치에 대한 효율적이고 비용 효율적인 테스트를 지원하는 Insite 테스트 기술을 사용합니다. ADVANTEST Enhanced Site Analysis (ESA) 기능은 포괄적인 데이터 분석 및 장애 감지 기능을 제공하여 사용자는 디바이스 설계 또는 제조 관련 장애를 파악하고 해결할 수 있습니다. 또한 여러 가지 테스트 프로그램 (Test Program) 을 통해 사용자는 보다 효율적인 테스트 프로세스를 위해 프로그램 사이를 쉽게 전환할 수 있습니다. M6300 핸들러는 안정적이고 고급 반도체 핸들러로, 혼합 신호, 아날로그, 디지털, 광전자 장치의 고속 생산을 효율적으로 지원합니다. 고급 멀티 사이트 프로브 (multi-site probing) 기능과 직접 퓨전 결합 프로브 팁이 있으며, 효과적인 신호 전송을 보장합니다. 또한 Insite 테스트 기술과 ESA (Enhanced Site Analysis) 기능을 통해 효율적인 데이터 분석을 지원합니다. 이를 통해 ADVANTEST M 6300 핸들러는 반도체 제조업체가 최고의 제품 품질을 보장하기 위해 이상적인 선택입니다.