판매용 중고 ADVANTEST M 6300 #9200142

ADVANTEST M 6300 핸들러는 이산 반도체 테스트를 위해 설계된 고성능, 프로그래밍 가능 및 자동 구성 요소 핸들러입니다. 이 유연하고 신뢰할 수 있는 핸들러는 메모리 장치, 논리 장치, 이미지 센서, 기타 소형 구성 요소에 대한 대용량 테스트에 적합합니다. ADVANTEST M6300 핸들러는 이동이 용이한 환기 베이스를 갖추고 있으며 최신 CPT (Compact Package Technology Testing) 기술을 제공합니다. 최대 96 UUT의 동시 처리가 가능하며 처리량은 최대 160 UPH입니다. 광범위한 온도를 테스트할 수 있으며, 라우팅 (route) 프로그래밍을 위한 다양한 옵션을 제공합니다. 정확하고 정확한 컴포넌트 테스트를 위해 M 6300 (M 6300) 은 자가 제어 동작 기능과 고급 토크 감지 기술을 통해 구성 요소를 섬세하고 안전하게 처리합니다. 핸들러에는 고속 비전 시스템, 검사 카메라 및 강력한 이미지 분석 알고리즘이 장착되어 있습니다. 또한 SO, TSOP, LQFP, TSOP 및 FBGA와 같은 여러 패키지를 자동으로 인식합니다. 또한 M6300 핸들러는 MEMS, 이미지 센서, 마이크 어레이 등의 민감한 구성 요소를 테스트할 때 고급 프로세스 제어를 제공합니다. 테스트 실행 중 온도, 압력, 전류 (current) 와 같은 프로세스 매개변수의 실시간 모니터링 및 추적은 별도의 정밀 측정 시스템이 필요하지 않습니다. 이 핸들러 (Handler) 는 특수 컴포넌트 테스트를 위해 다양한 비품을 갖추고 있으며 동일한 테스트 주기에서 최대 30 개의 픽 앤 플레이스 (pick-and-place) 이벤트를 할 수 있습니다. ADVANTEST M 6300 핸들러는 드롭 테스트, 입/출력 테스트, 전기 특성 테스트 등 다양한 테스트 방법도 제공합니다. 이 제품은 대부분의 주요 테스트 솔루션 (Testing Solution) 과 호환되므로 운영 시설 및 연구 실험실 (Research Labs) 에 이상적인 솔루션입니다. 이 핸들러는 사람의 개입 및 데이터 수집 오류를 줄이기 위해 고안되었으며 정확성을 보장하기 위해 IEC (IEC) 및 반도체 (Semiconductor) 산업 표준을 준수합니다.