판매용 중고 YOKOGAWA AL 6095 #9181116

YOKOGAWA AL 6095는 반도체 장치를 위해 설계된 고급 최종 테스트 장비입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 에 대한 자동 테스트 (최대 20 가지 유형의 반도체 장치 테스트 포함) 를 실행할 수 있다. 이 시스템은 완벽하게 자동화된, 사용자 친화적인 테스트 환경을 제공하여 테스트 시간을 대폭 단축하고, 운영 라인의 정확도를 높입니다. 알 6095 (AL 6095) 는 기존 및 향후 생산 라인에 완전 자동화 테스트 장치로 통합되도록 설계되었습니다. 장치 마운팅용 고정장치 (fixture for device mounting), 결함 감지 및 측정용 다이 스캐너 (die-scanner), 장치 테스트 제어용 소프트웨어 등 다양한 모듈을 제공합니다. 이 시스템에는 사용자 친화적 인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 포함되어 있어, 최소한의 교육 요건으로 효율적인 설치 및 작업을 수행할 수 있습니다. YOKOGAWA AL 6095는 웨이퍼에서 각 장치를 테스트하기 위해 독특하고 정밀도가 높은 비전 도구를 사용합니다. 비전 에셋은 솔더 범프 (solder bump), 오프닝 크기 (opening sizes), 미세한 모양 (microscopic shape) 등 각 장치의 세부 사항을 감지하고 측정합니다. 이를 통해 모델은 실제 결함 (real defects) 과 잘못된 결함 (false one) 을 구분하여 결과의 정확성과 신뢰성을 보장할 수 있습니다. AL 6095는 또한 광범위한 분석 기능을 제공합니다. 기본 제공되는 알고리즘을 통해 디바이스 성능 및 수율에 대한 진단, 디바이스 결함의 근본 원인 분석 (root-cause analysis) 등을 수행할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 포괄적인 데이터 관리 기능을 제공하여 사용자는 테스트 결과를 저장, 분석, 익스포트할 수 있습니다. 요코가와 알 6095 (YOKOGAWA AL 6095) 는 청소실 및 비청소실 환경에서 작동하도록 설계되었으며, 소규모 및 대규모 생산 라인에 적합합니다. 강력한 비전 시스템, 고속 테스트 실행 (high-speed test execution), 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 등 고급 기능을 통해 반도체 장치 테스트에 없어서는 안 될 도구입니다.