판매용 중고 TERADYNE Z18XX #9249886

TERADYNE Z18XX Final Test 장비는 완전 자동 테스트 솔루션으로, 집적 회로 (IC) 의 테스트 및 검사를 위해 설계되었습니다. 고성능 최종 테스트 (Final Test) 를 위해 설계되었으며 모든 IC 테스트 요구를 충족하는 높은 처리량, 높은 정확도 솔루션을 제공합니다. TERADYNE Z 18XX에는 IC 테스트를 위해 특별히 설계된 다양한 기능이 있습니다. IC 테스트를 위해 설계 및 교정 된 매우 정확한 테스트 프로브는 IC 의 정확한 특성을 측정하고 보고하는 데 사용됩니다. 빠르고 신뢰할 수 있는 Autoprobe 레이저 유도 자동 테스트 핸들러를 통해 사용자는 IC 를 빠르고 쉽게 조사할 수 있습니다 (수동 개입 불필요). 이 시스템은 최대 8 개의 IC 를 동시에 테스트할 수 있으며, 최대 8 MHz 의 고속 테스트 속도를 제공하며, 잘 국한된 레이아웃에서의 세심한 레이아웃 설계로 인해 대기 시간이 짧습니다. 테스트 속도는 장치의 동기 클럭킹 (synchronous clocking) 에 의해 달성되며 고속 레이저 이동 감지 (High Speed Laser Movement Detection) 에 의해 활성화됩니다. 테스트 프로그램은 Z18XX의 프로그래밍 환경 내에서 만들어지며, 사용자는 복잡한 명령어 세트, 루프 (loop) 및 기타 정교한 프로그래밍 기능을 갖춘 자체 맞춤형 IC 테스트 프로그램을 개발하고 작성할 수 있습니다. 이 프로그램은 마스크 결함 (mask defect) 을 포함한 다양한 결함을 감지할 수 있는 포괄적인 기능/타이밍 (timing) 테스트를 만드는 데 사용될 수 있습니다. Z 18XX 는 또한 고급 수리/재테스트 (Re-test) 기능을 제공하여 손쉽게 결함을 해결하고 테스트할 수 있습니다. 라이브 디스플레이, 데이터 기록, imageMap 기술, 자동 결함 매핑 등의 다른 기능을 통해 사용자는 성능을 최적화하고, 테스트 처리량을 높이고, 전반적인 테스트 시간을 줄일 수 있습니다. 전반적으로 TERADYNE Z18XX Final Test 머신은 빠르고 정확한 결과를 제공하는 IC를 위한 안정적이고, 효율적이며, 강력한 테스트 솔루션입니다. IC테스팅 (IC Testing) 을 위해 특별히 설계된 다양한 기능을 제공하여, 사용자 지정 테스트 프로그램을 손쉽게 만들고 고급 수리/재테스트 (Re-Test) 기능을 활용할 수 있습니다. IC 테스트 및 검사 요구를 충족하는 강력하고, 안정적이며, 효과적인 솔루션입니다.