판매용 중고 TERADYNE Z 1890 #9031288

TERADYNE Z 1890 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 집적 회로, 보드 및 시스템의 대용량 및 고속 기능 테스트, 진단 및 화상을 가능하게 하는 고급, 다용도 및 비용 효율적인 시스템입니다. 통신, 산업, 자동차, 의료 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. Test Unit의 핵심 아키텍처는 Mainframe 및 Semiconductor Test Handler의 두 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다. 메인프레임은 CompactFlash 메모리 카드, 직접 인터페이스 테스터, DSP (Digital Signal Processing) 모듈 등의 자원을 호스팅하기 위한 다용도 멀티 스테이션 플랫폼입니다. 테스트 프로세스를 가속화하고 제어하기위한 현장 프로그래밍 가능한 게이트 어레이 (FPGA) 가 있습니다. Semiconductor Test Handler는 558/2588 proBER 제품군에서 채택한 구성 가능한 다중 채널 장치입니다. 여기에는 UART 및 GPIB와 같은 다기능 I/O 포트, EtherNet/IP 네트워킹 및 카세트 로드/언로드가 포함됩니다. 대용량 핀 (pin capacity) 과 빠른 주기 시간을 통해 강력한 최종 테스트 솔루션이 됩니다. 또한 저전압 및 RF 테스트용 HDB (High-Density Backplane), 신호 전환용 AC 스위치 매트릭스, 메모리, 디지털 논리 및 아날로그 측정에 대한 다양한 ProBER 테스트 모듈과 같은 테스트 특정 구성 요소가 포함되어 있습니다. HDB를 사용하면 여러 개의 카드와 고속 아날로그 신호를 동시에 공구에 연결할 수 있습니다. AC 스위치 매트릭스는 최대 200MHz 주파수에서 고속 아날로그 신호 전환을 제공합니다. ProBER 모듈은 정확한 고속 측정 기능, 통합 Probing 시스템, 다중 테스트 패턴 기능 및 고급 장애 분석을 제공합니다. 자산은 사용하기 쉽고, 직관적인 운영자 인터페이스, 고급 진단 도구, 구성 가능한 패스/장애 조건을 제공합니다. 또한 Analytical Test Tools 및 Test Suite 와 같은 고급 소프트웨어와 통합할 수 있습니다. 또한 장애에 대한 자세한 분석, 고급 디버깅 명령 세트 (Advanced Debugging Command Set) 등 모델 레벨 디버깅 툴을 제공하여 장비 수준 문제를 보다 쉽게 감지하고 해결할 수 있습니다. 또한, 견고한 설계는 가장 까다로운 테스트 환경에서도 안정적인 운영을 보장합니다. TERADYNE Z1890 최종 테스트 시스템 (Final Test System) 은 대용량 및 고속 테스트에 적합합니다. 모듈식 아키텍처 (modular architecture), 고급 테스트 리소스 (advanced test resource), 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 및 안정적인 작업 (stable operation) 을 통해 광범위한 통합 회로 및 시스템 수준 테스트에 적합한 옵션을 제공합니다.