판매용 중고 TERADYNE Z 1880 #293818770

TERADYNE Z 1880은 다양한 고밀도, 고속 어플리케이션을위한 고급 최종 테스트 장비입니다. ECU (Electronic Control Unit), 반도체 웨이퍼 칩셋, MEMS 및 이미징 센서를 테스트하는 데 가장 적합한 제조 분류입니다. 동급 최고 수준의 동시 테스트 밀도 및 다양한 특수 모듈 옵션 (예: 온도 조절, 벅/부스트 전압 설정) 을 제공합니다. 다목적 아키텍처를 통해, 특정 요구 사항과 대규모 운영 실행을 위해 구성할 수도 있습니다. TERADYNE Z1880 (TERADYNE Z1880) 은 다양한 업계 표준 프로버와 호환되며 다양한 테스트 매개변수를 수용하기 위해 모듈식 디자인을 사용합니다. 메인프레임은 완벽하게 통합된 테스트 헤드 (test head) 와 인터페이스 전자 제품 (interface electronics) 으로 구성되어 있습니다. 이 시스템은 최대 7.5MHz 속도의 병렬로 최대 32 개의 장치를 테스트할 수 있으며, 총 128 개의 장치를 지원합니다. 테스트 프로세스를 최적화하여 처리량 (maximum throughput) 또는 최고 테스트 정밀도 (highest test precision) 에 맞게 다양한 테스트 매개변수를 구성할 수 있습니다. Z 1880은 OGA (Open Grid Architecture) 와 같은 다양한 광범위한 프로브 옵션 및 다양한 기능을 제공합니다. 이를 통해 장치는 여러 테스트 헤드에 걸쳐 테스트 구조를 구성하고 개별 신호를 가상 테스터 채널 (virtual tester channel) 로 구문 분석할 수 있습니다. 또한 고속 (High-Speed) 정렬 기능을 통해 결함이 있는 장치를 신속하게 감지하고 거부할 수 있습니다. 이 기계는 또한 확장 온도 및 공급 범위 (supply range) 에 대한 다중 레벨 매트릭스 (multi-level matrix) 테스트를 지원하므로 제품 내에서 매우 낮은 고장률을 감지 할 수 있습니다. Z1880의 다른 기능으로는 데이터 로깅, 장치 특성, 웨이퍼 레벨 테스트, 디지털 이미징 및 3D 비주얼 프로브 포지셔닝이 있습니다. TERADYNE 소프트웨어 제품군에 의해 제어되며 LabVIEW, Visual Basic 및 C++ 와 같은 다양한 소프트웨어 언어와 함께 사용할 수 있습니다. TERADYNE Z 1880은 다양한 고속 고밀도 응용 프로그램을 테스트하기위한 탁월한 선택입니다. 다용도, 확장성, 풍부한 기능으로 인해 비용 효율적이면서도 안정적이며 강력한 테스트 솔루션을 원하는 제조 (Manufacturing) 작업에 적합한 솔루션입니다.