판매용 중고 TERADYNE Z 1880-2 #145677

TERADYNE Z 1880-2
ID: 145677
Test system Software license: G.X Up to 2048 node capacity MultiScan II Available options: Vector processors Digital function processors (program Flash) 3 Volt, 100 Volt.
TERADYNE Z 1880-2는 가전 제품, 자동차, 항공 우주 및 방위, 의료 기술 등 다양한 산업에서 사용되는 고급 "최종 테스트" 시스템입니다. 비용 절감, 테스트 범위 확대, 전반적인 테스트 효율성 및 생산성 향상을 위해 설계되었습니다. 8,192 개의 디지털 테스트 포인트를 갖춘 고속 병렬 디지털 테스터가 특징입니다. 이를 통해 혼합 신호 (Mixed Signal) 및 디지털 IC (Digital IC), ASIC (System-on-Chip) 설계 등 여러 기술을 통합한 복잡한 구성 요소를 포괄적으로 테스트할 수 있습니다. Z 1880-2는 최대 25 x 25mm의 IC 패키지 크기를 모두 수용 할 수 있으며 최대 30 x 30mm의 기판을 제공합니다. 또한 광범위한 ICT (Integrated In-Circuit), 기능 테스트 접근 방식 및 디바이스 버스 테스트를 지원합니다. 게다가, 여러 장치를 동시에 테스트할 수 있으며, 처리량은 시간당 최대 680UUT 입니다. TERADYNE Z 1880-2는 사용이 간편하고 직관적인 사용자 인터페이스를 제공하며, 실시간 데이터 수집 및 분석이 가능합니다. 정교한 DFT 및 디지털 테스트는 Visual Studio - Test Professional을 포함한 다양한 Windows 기반 테스트 개발 플랫폼에서 개발할 수 있습니다. 이 장치는 또한 매우 정확한 디지털 튜닝 및 채널 간 테스트 기능을 제공합니다. 또한, 프로그래머블 로직 컨트롤러, 디지털 I/O, 아날로그-디지털 컨버터 등 다양한 아날로그 및 디지털 테스트 기기가 장착되어 있습니다. 전반적으로, Z 1880-2 는 생산 프로세스를 간소화하고, 비용을 절감하고, 제품의 품질과 신뢰성을 높이고, 테스트 적용 범위와 속도를 높이는 고급 "최종 테스트" 시스템입니다. 고속 테스트 (고속 테스트), 시간당 최대 680UUT를 제공하며, 광범위한 통합 회로 내 (in-circuit) 및 장치 버스 테스트 방식을 사용할 수 있습니다. 사용자 인터페이스 (User Interface) 와 실시간 데이터 획득 및 분석 기능이 있으며, 다양한 아날로그/디지털 테스트 기기를 갖추고 있습니다.
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